[發(fā)明專利]光電耦合件測試用夾具及光電耦合件測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310021297.5
• 申請日: 2013-01-21
• 公開（公告）號: CN103940583B
• 公開（公告）日: 2018-05-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林致超
• 申請（專利權(quán)）人: 凱聯(lián)科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 深圳市蘭鋒知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)44419
• 代理人: 曹明蘭

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種光電耦合件測試用夾具及光電耦合件測試方法。

背景技術(shù)

光纖耦合連接器中的透鏡單元一般包括兩組透鏡以及一個(gè)反射斜面，兩組透鏡分別是光纖側(cè)以及基板側(cè)，就光學(xué)設(shè)計(jì)的角度而言，這兩組透鏡的同心偏差一般大約在數(shù)微米之間，所以就成品的角度來說，透鏡位置的正位度就十分重要，一般量測透鏡的正位度是取其定位孔(柱)的中心為基準(zhǔn)，然后再分別于兩組透鏡成品面以此基準(zhǔn)進(jìn)行透鏡正位度的量測。

就以往的量測方式，光纖側(cè)以及基板側(cè)透鏡分別于不同的成品面進(jìn)行正位度的量測，但是以此方法進(jìn)行量測會(huì)有基準(zhǔn)面不同的問題，從而使的量測不準(zhǔn)確。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種能提高測量精度的光電耦合件測試用夾具及光電耦合件測試方法。

一種光電耦合件測試用夾具，其用于在測試一光電耦合件時(shí)夾持該光電耦合件。所述夾具包括一第一夾板及一與所述第一夾板相配合的第二夾板。所述第一夾板包括一上表面、一背離所述上表面的下表面及一第一側(cè)面。所述第一夾板于所述上表面與所述第一側(cè)面的交界處向所述下表面延伸開設(shè)有一收容槽。所述收容槽用于收容所述光電耦合件。所述第二夾板包括一頂面及一第二側(cè)面。所述頂面向所述第二側(cè)面延伸形成有一傾斜的斜面。所述斜面布設(shè)有一反射層，所述光電耦合件的一表面上的耦合透鏡投影在所述反射層上。

一種光電耦合件測試方法，其包括以下步驟：

提供一種光電耦合件及上述夾具，所述光電耦合件包括一第一端面及一第一表面，所述述第一表面與所述第一端面垂直相連，所述第一端面上延伸有一對定位凸柱，同時(shí)開設(shè)有一第一收容槽，所述第一收容槽包括一槽底，所述槽底上設(shè)置有多個(gè)第一耦合透鏡，所述第一表面上開設(shè)有一個(gè)第二收容槽，所述第二收容槽的底部設(shè)置有多個(gè)對應(yīng)于所述第一耦合透鏡的第二耦合透鏡；

將所述光電耦合件放入所述收容槽內(nèi)，所述第一端面上的第一耦合透鏡裸露于收容槽外，所述第二耦合透鏡投影在所述反射層上；

所述第一耦合透鏡和所述第二耦合透鏡均與所述光電耦合件的第一端面上的所述定位凸柱為基準(zhǔn)進(jìn)行正位度量測。

相對于現(xiàn)有技術(shù)，由于所述第二耦合透鏡投影在所述反射層上，進(jìn)而可使所述第一耦合透鏡和所述第二耦合透鏡均可與所述光電耦合件的第一端面上的所述定位凸柱為基準(zhǔn)進(jìn)行透鏡正位度的量測，由于采用同一個(gè)基準(zhǔn)面，從而使得測量準(zhǔn)確。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實(shí)施方式的光電耦合件測試用夾具的立體組裝結(jié)構(gòu)圖。

圖2是圖1中的夾具的分解圖。

圖3是圖2的夾具的另一角度視圖。

圖4是圖1的夾具的使用狀態(tài)圖。

圖5是圖4中的V部分放大圖。

圖6是本發(fā)明實(shí)施方式的光電耦合件測試方法的流程圖。

主要元件符號說明