[發明專利]光電耦合件測試用夾具及光電耦合件測試方法

有效

• 申請號: 201310021297.5
• 申請日: 2013-01-21
• 公開（公告）號: CN103940583B
• 公開（公告）日: 2018-05-01
• 發明（設計）人: 林致超
• 申請（專利權）人: 凱聯科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 深圳市蘭鋒知識產權代理事務所(普通合伙)44419
• 代理人: 曹明蘭

1.一種光電耦合件測試用夾具，其用于在測試一光電耦合件時夾持該光電耦合件，其特征在于：所述夾具包括一第一夾板及一與所述第一夾板相配合的第二夾板，所述第一夾板包括一上表面、一背離所述上表面的下表面及一第一側面，所述第一夾板于所述上表面與所述第一側面的交界處向所述下表面延伸開設有一收容槽，所述收容槽用于收容所述光電耦合件，所述第二夾板包括一頂面及一第二側面，所述頂面向所述第二側面延伸形成有一傾斜的斜面，所述斜面布設有一反射層，所述光電耦合件的一表面上的耦合透鏡投影在所述反射層上。

2.如權利要求1所述的夾具，其特征在于：所述第一夾板的第一側面靠近所述下表面位置沿垂直所述第一側面方向向外延伸有兩個定位塊，兩個所述定位塊相互間隔，在兩個定位塊之間形成有一開口，所述第二夾板還包括一背離所述頂面的底面，所述第二夾板的底面沿垂直所述底面方向向下延伸有一個定位柱，所述定位柱的形狀及尺寸分別與所述開口的形狀及尺寸相對應，所述定位柱收容在所述開口內。

3.如權利要求2所述的夾具，其特征在于：所述上表面平行所述下表面，所述上表面及所述下表面均與所述第一側面相垂直連接，所述頂面平行所述底面，所述頂面及所述底面均與所述第二側面相垂直連接。

4.如權利要求2所述的夾具，其特征在于：兩個定位塊與所述第一夾板一體成型。

5.如權利要求2所述的夾具，其特征在于：兩個所述定位塊關于所述開口對稱。

6.如權利要求1所述的夾具，其特征在于：所述反射層由不銹鋼材料制成。

7.如權利要求1所述的夾具，其特征在于：所述反射層為一平面鏡。

8.如權利要求1所述的夾具，其特征在于：所述頂面與所述斜面成一角度，所述角度為45度。

9.一種光電耦合件測試方法，其包括以下步驟：

提供一種光電耦合件及一如權利要求1-7任一項所述的夾具，所述光電耦合件包括一第一端面及一第一表面，所述第一表面與所述第一端面垂直相連，所述第一端面上延伸有一對定位凸柱，同時開設有一第一收容槽，所述第一收容槽包括一槽底，所述槽底上設置有多個第一耦合透鏡，所述第一表面上開設有一個第二收容槽，所述第二收容槽的底部設置有多個對應于所述第一耦合透鏡的第二耦合透鏡；

將所述光電耦合件放入所述收容槽內，所述第一端面上的第一耦合透鏡裸露于收容槽外，所述第二耦合透鏡投影在所述反射層上；

所述第一耦合透鏡和所述第二耦合透鏡均與所述光電耦合件的第一端面上的所述定位凸柱為基準進行正位度量測。