[發明專利]表面下沉量量測方法及其量測設備

無效

• 申請號: 201310015835.X
• 申請日: 2013-01-16
• 公開（公告）號: CN103913120A
• 公開（公告）日: 2014-07-09
• 發明（設計）人: 陳冠文;陳大衛
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 趙根喜;呂俊清

技術領域

本發明有關于一種表面下沉量量測方法及其量測設備，特別有關于一種應用于快速檢測的表面下沉量量測方法及其量測設備。

背景技術

在現有技術中，為了取得裝置(例如，伺服器主機)的機殼表面下沉量的數據，一般以厚薄規搭配目測的方式進行量測，或者，以單點式數字電子量表進行量測。

以厚薄規搭配目測的方式進行量測，其準確性以及量測效率極差，無法有效量化及規范量測方法及準則，且測量結果無法數字化。

使用單點式數字電子量表測量下沉量，其優點為可以數字化測量結果，但是礙于此方法為單點式測量，若要將整體機殼下表面的下沉量測量完畢，所需時間相對較長。另外，單點式數字電子量表為接觸式量測儀器，故量表的接觸探頭有磨損的使用壽命問題。并且可能刮傷待測物表面。

發明內容

本發明的目的是提供一種表面下沉量量測方法及其量測設備，以解決現有技術存在的問題。

為實現上述目的，本發明提出一種表面下沉量量測設備，用以量測一裝置的一機殼表面的下沉量，包括一支撐架、一光源、一接收器以及一控制單元。支撐架支撐該裝置。光源提供一光線，其中，該光源位于一基準平面，該光線沿水平方向行進。接收器接收該光線，其中，該接收器位于該基準平面，當該裝置的該機殼表面的下沉量超過容許值時，該機殼表面與該基準平面發生干涉而阻礙該接收器接收該光線。控制單元耦接該接收器，該控制單元依據該接收器是否接收到該光線的結果，而判斷該裝置的該機殼表面是否存在下沉量超過容許值的情況。

本發明還提出一種表面下沉量量測方法，用以量測一裝置的一機殼表面的下沉量，包括：

提供一表面下沉量量測設備，該表面下沉量量測設備包括一支撐架、一光源、一接收器以及一控制單元，該支撐架支撐該裝置，該光源提供一光線，其中，該光源位于一基準平面，該光線沿水平方向行進，該接收器接收該光線，其中，當該裝置的該機殼表面的下沉量超過容許值時，該機殼表面與該基準平面發生干涉而阻礙該接收器接收該光線，該控制單元耦接該接收器，該控制單元依據該接收器是否接收到該光線的結果，而判斷該裝置的該機殼表面是否存在下沉量超過容許值的情況；以及

將該光源設于一第一導軌，將該接收器設于一第二導軌，該光源沿該第一導軌于該基準平面上移動，該接收器于該第二導軌上以對應該光源的方式移動，該控制單元依據該接收器是否接收到該光線的結果，而判斷該裝置的該機殼表面的何處存在下沉量超過容許值的情況。

應用本發明實施例的表面下沉量量測設備及所搭配的表面下沉量量測方法，相較于單點式數字電子量表的量測方式，本發明實施例的表面下沉量量測方法可快速的檢知機殼表面下沉量，并且設備的損壞率極低。相較于以厚薄規搭配目測的量測方式，本發明實施例的表面下沉量量測方法可具體量化檢測結果，并可建立穩定的檢測步驟以及準則。因此，相較于現有技術，本發明實施例的表面下沉量量測方法提供了快速的檢測速度以及精確且穩定的量測結果。

附圖說明

圖1顯示以本發明實施例的表面下沉量量測設備，量測一裝置的機殼表面下沉量，其中，該裝置的該機殼表面的下沉量超過容許值；

圖2顯示以本發明實施例的表面下沉量量測設備，量測一裝置的機殼表面下沉量，其中，該裝置的該機殼表面的下沉量未超過容許值；

圖3顯示以本發明實施例的表面下沉量量測設備的立體圖。

其中，附圖標記說明如下：

1～表面下沉量量測設備

11～支撐架

111～支撐部

12～光源

121～光線

13～接收器

14～第一導軌

15～第二導軌

2～裝置

21～機殼表面

22～凸耳

具體實施方式