[發明專利]試樣分析裝置及試樣分析方法

有效

• 申請號: 201310015352.X
• 申請日: 2013-01-16
• 公開（公告）號: CN103217536A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 芝正樹;西田智幸;若宮裕二
• 申請（專利權）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N33/53
• 代理公司: 北京市安倫律師事務所 11339
• 代理人: 劉良勇

1.?一種試樣分析裝置，包括：

測定部件，對試樣進行測定，根據所述試樣中的被檢測成分的濃度生成測定值；

存儲部件，存儲用于定義所述測定部件生成的測定值與所述成分的濃度的關系的校準曲線；

分析部件；

輸出部件；

指示接受部件，用于接受試樣的測定指示；其中，

當所述指示接受部件收到標準試樣的稀釋測定的指示后，所述測定部件混合含有已知濃度的成分的標準試樣和稀釋液，以此按一定倍率稀釋所述標準試樣，并對稀釋的標準試樣進行測定，所述分析部件將從稀釋的所述標準試樣獲得的測定值用于所述校準曲線，以此求出所述稀釋的標準試樣中的成分的濃度，所述輸出部件輸出根據所求出的濃度和所述已知濃度生成的信息。

2.?根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于：

所述分析部件計算出所求出的濃度和所述已知濃度的濃度比。

3.?根據權利要求2所述的試樣分析裝置，其特征在于：

當測定以與稀釋的所述標準試樣相同的倍率稀釋樣本而制備的稀釋樣本時，所述分析部件用所述校準曲線將所述稀釋樣本的測定值換算成第一濃度，再以所述濃度比為校準系數乘以此第一濃度，以此求出所述樣本中所含有的成分的濃度。

4.?根據權利要求2所述的試樣分析裝置，其特征在于：

當測定以與稀釋的所述標準試樣不同的倍率稀釋樣本而制備的稀釋樣本時，所述分析部件用所述校準曲線將所述稀釋樣本的測定值換算成第一濃度，再用以所述濃度比為基礎設定的系數乘以所述第一濃度，以此求出所述樣本中所含有的成分的濃度。

5.?根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于：

所述分析部件根據濃度互不相同的數份標準試樣的各自的濃度、以及在所述測定部件測定各標準試樣所獲得的測定值制作校準曲線。

6.?根據權利要求5所述的試樣分析裝置，其特征在于：

當制作校準曲線時，所述測定部件對數份標準試樣分別進行數次測定，所述分析部件將數次測定中獲得的數個測定值的平均值定為一個標準試樣的代表測定值，根據所述代表測定值和已知濃度制作校準曲線。

7.?根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于：

所述測定部件將制作校準曲線中使用的數份標準試樣中用戶選擇的一份標準試樣稀釋為所述一定倍率，并進行測定。

8.?根據權利要求3所述的試樣分析裝置，其特征在于：

所述輸出部件具有顯示部件；

在所述顯示部件顯示用校準系數求得的樣本中的成分的濃度時，所述顯示部件在所述樣本中的成分的濃度外還附加顯示表示是用校準系數求出的信息。

9.?根據權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于：

所述測定部件通過對試樣進行光學測定來生成所述測定值。

10.?根據權利要求2所述的試樣分析裝置，其特征在于：

所述輸出部件具有顯示部件；

所述顯示部件能夠對比地顯示所計算出的濃度比和為計算出所述濃度比而稀釋標準試樣時的稀釋倍率。

11.?根據權利要求2所述的試樣分析裝置，其特征在于：

當所述濃度比與為求出所述濃度比而稀釋標準試樣時的稀釋倍率不在一定關系中時，所述輸出部件輸出警告。

12.?根據權利要求5所述的試樣分析裝置，還包括：

運送部件，用于運送能夠放置數個裝試樣的容器的架；其中，

裝有數份標準試樣的容器放置到架中且所述架由運送部件運送到測定部件后，測定部件連續進行對用于制作校準曲線的標準試樣的測定和標準試樣的稀釋測定。