[發(fā)明專利]滴灌管孔位偏差自動糾正系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310003173.4 | 申請日: | 2013-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN103009427A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 高利強 | 申請(專利權(quán))人: | 高利強 |
| 主分類號: | B26D7/27 | 分類號: | B26D7/27;B26F1/00;G01B11/00 |
| 代理公司: | 銀川長征知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 64102 | 代理人: | 孫彥虎 |
| 地址: | 750200 寧夏回族*** | 國省代碼: | 寧夏;64 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 滴灌 管孔位 偏差 自動 糾正 系統(tǒng) | ||
1.一種滴灌管孔位偏差自動糾正系統(tǒng),包括可編程控制器、打孔機構(gòu)、底座及滴頭檢測機構(gòu),其特征在于:還包括攝像機構(gòu)、調(diào)整機構(gòu),攝像機構(gòu)、打孔機構(gòu)、滴頭檢測機構(gòu)前后依次設(shè)置在底座上,調(diào)整機構(gòu)設(shè)置在底座下方,打孔機構(gòu)、滴頭檢測機構(gòu)、調(diào)整機構(gòu)、攝像機構(gòu)與可編程控制器電性連接,滴頭檢測機構(gòu)用于檢測滴灌管上的滴頭,在檢測到滴灌管上的滴頭時,傳送預(yù)設(shè)的觸發(fā)信號給可編程控制器;打孔機構(gòu)用于響應(yīng)可編程控制器根據(jù)觸發(fā)信號輸出的打孔信號在滴灌管具有滴頭的部位上進行打孔;攝像機構(gòu)用于連續(xù)拍攝滴灌管的具有孔的管壁并產(chǎn)生對應(yīng)的視頻圖像信號,并將視頻圖像信號提供給可編程控制器;可編程控制器用于接收滴頭檢測機構(gòu)提供的觸發(fā)信號,并根據(jù)觸發(fā)信號輸出預(yù)設(shè)的打孔信號,可編程控制器還用于接收視頻圖像信號及對應(yīng)的產(chǎn)生視頻圖像數(shù)據(jù),并從視頻圖像數(shù)據(jù)中選取與最優(yōu)孔位視頻圖像數(shù)據(jù),可編程控制器還用于將選取的最優(yōu)孔位視頻圖像數(shù)據(jù)與預(yù)存的樣本視頻圖像數(shù)據(jù)比較,在比較出最優(yōu)孔位視頻圖像數(shù)據(jù)與樣本視頻圖像數(shù)據(jù)不對應(yīng)時,計算最優(yōu)孔位視頻圖像數(shù)據(jù)中的孔位與樣本視頻圖像數(shù)據(jù)中的孔位的位置差量值,并將計算的位置差量值提供給調(diào)整機構(gòu);調(diào)整機構(gòu)根據(jù)可編程控制器提供的位置差量值調(diào)整底座上的滴管帶與打孔機構(gòu)的相對位置,以糾正滴灌管孔位偏差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滴灌管孔位偏差自動糾正系統(tǒng),其特征在于:位置差量值為x、y坐標值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的滴灌管孔位偏差自動糾正系統(tǒng),其特征在于:滴頭檢測機構(gòu)包括信號發(fā)射器、信號接收器,信號發(fā)射器發(fā)射信號至位于底座上的滴灌管上的目標部位,信號接收器接收經(jīng)過滴灌管上的目標部位的信號,可編程控制器根據(jù)預(yù)設(shè)的計算規(guī)則、信號發(fā)射器發(fā)射的信號及信號接收器接收的信號計算出滴灌管上目標部位的厚度值,可編程控制器還在判斷出計算出的滴灌管上目標部位的厚度值大于滴灌管管壁厚度時,控制打孔機構(gòu)進行打孔操作。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的滴灌管孔位偏差自動糾正系統(tǒng),其特征在于:信號發(fā)射器為超聲波發(fā)射器,信號發(fā)射器發(fā)射出的信號為超聲波;信號接收器為超聲波接收器;預(yù)設(shè)計算規(guī)則為:L=????????????????????????????????????????????????Vt,其中L為滴灌管上目標部位的厚度值,V為超聲波在所測材料中的傳播速度,t為信號發(fā)射器發(fā)射出的超聲波到信號接收器接收到超聲波時間。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的滴灌管孔位偏差自動糾正系統(tǒng),其特征在于:信號發(fā)射器為射線發(fā)射器,信號發(fā)射器發(fā)射出的信號為射線;信號接收器為射線接收器;預(yù)設(shè)計算規(guī)則為:I=Tr*EXP(-UX),Tr為初始射線強度,I為穿過物體后的射線強度,U為衰減系數(shù),X為射線穿過的厚度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于高利強,未經(jīng)高利強許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310003173.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種火電廠用煤粉粉碎機
- 下一篇:一種玻璃瓶高效快速破碎裝置





