[發(fā)明專利]有源矩陣基板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201280063901.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104011587A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 美崎克紀(jì) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 夏普株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G02F1/1368 | 分類號(hào): | G02F1/1368;G02F1/1343;G09F9/30;H01L21/318;H01L21/336;H01L21/768;H01L23/532;H01L29/786 |
| 代理公司: | 北京尚誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 有源 矩陣 | ||
1.一種有源矩陣基板,其特征在于,具有:
基板;
薄膜晶體管,其被所述基板支承,具有半導(dǎo)體層、柵極電極、源極電極和漏極電極;
第一透明導(dǎo)電層和第二透明導(dǎo)電層,該第一透明導(dǎo)電層和第二透明導(dǎo)電層中的至少一方與所述薄膜晶體管的所述漏極電極電連接;和
在所述第一透明導(dǎo)電層與所述第二透明導(dǎo)電層之間形成的無(wú)機(jī)絕緣層的疊層體,
所述疊層體具有第一無(wú)機(jī)絕緣層、第二無(wú)機(jī)絕緣層和第三無(wú)機(jī)絕緣層,所述第一無(wú)機(jī)絕緣層具有拉伸應(yīng)力,所述第二無(wú)機(jī)絕緣層和所述第三無(wú)機(jī)絕緣層以?shī)A著所述第一無(wú)機(jī)絕緣層的方式形成,具有壓應(yīng)力,并且,所述疊層體作為整體具有拉伸應(yīng)力。
2.如權(quán)利要求1所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第一無(wú)機(jī)絕緣層是折射率為1.804以下的氮化硅層。
3.如權(quán)利要求1或2所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第二無(wú)機(jī)絕緣層和所述第三無(wú)機(jī)絕緣層是折射率為1.805以上的氮化硅層。
4.如權(quán)利要求1~3中的任一項(xiàng)所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第一透明導(dǎo)電層與所述第二透明導(dǎo)電層相比更靠近所述基板地形成,所述第二無(wú)機(jī)絕緣層與所述第三無(wú)機(jī)絕緣層相比更靠近所述基板地形成,
所述疊層體在所述第一透明導(dǎo)電層與所述第二無(wú)機(jī)絕緣層之間還具有第四無(wú)機(jī)絕緣層。
5.如權(quán)利要求4所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第四無(wú)機(jī)絕緣層是折射率為1.4以上1.6以下的氧化硅層。
6.如權(quán)利要求4或5所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述疊層體在所述第二透明導(dǎo)電層與所述第三無(wú)機(jī)絕緣層之間還具有第五無(wú)機(jī)絕緣層。
7.如權(quán)利要求6所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第五無(wú)機(jī)絕緣層是折射率為1.4以上1.6以下的氧化硅層。
8.如權(quán)利要求1~7中的任一項(xiàng)所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第一透明導(dǎo)電層和所述第二透明導(dǎo)電層是ITO層或IZO層。
9.如權(quán)利要求1~8中的任一項(xiàng)所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述半導(dǎo)體層是氧化物半導(dǎo)體層。
10.如權(quán)利要求1~9中的任一項(xiàng)所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第一透明導(dǎo)電層處于電浮置狀態(tài),所述第二透明導(dǎo)電層是像素電極。
11.如權(quán)利要求1~9中的任一項(xiàng)所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第一透明導(dǎo)電層是輔助電容相對(duì)電極,所述第二透明導(dǎo)電層是像素電極。
12.如權(quán)利要求1~9中的任一項(xiàng)所述的有源矩陣基板,其特征在于:
所述第一透明導(dǎo)電層是共用電極,所述第二透明導(dǎo)電層是具有多個(gè)狹縫的像素電極。
13.如權(quán)利要求1~12中的任一項(xiàng)所述的有源矩陣基板,其特征在于:
具有覆蓋所述薄膜晶體管的有機(jī)絕緣層,
所述有機(jī)絕緣層的一部分與所述疊層體的一部分直接接觸。
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