[發明專利]用于在非剛性待測樣本上進行泄漏檢測的方法

有效

• 申請號: 201280062495.X
• 申請日: 2012-12-28
• 公開（公告）號: CN103998910B
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發明（設計）人: 丹尼爾·瓦特茲哥;西爾維奧·德克爾
• 申請（專利權）人: 英福康有限責任公司
• 主分類號: G01M3/32
• 分類號: G01M3/32;G01M3/36
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所44237
• 代理人: 張全文

技術領域

本發明涉及一種用于在非剛性待測樣本上進行泄漏檢測的方法。

背景技術

非剛性待測樣本在壓力變化時具有柔性結構。例如，這種待測樣本可以為食物包裝袋。當待測樣本內部壓力和周圍環境壓力之間的壓力差太大時，待測樣本存在破裂或至少被損壞的風險。

在傳統情況下，非剛性待測樣本被充滿測試氣體，然后在泵系統的排出氣體流中對測試氣體進行檢測，其中，泵系統用于產生必要的氣壓差。可選地，如果傳感器被用于待測樣本內部的填充氣體時，則不需要特定的測試氣體。通過這種測試方法，測試結果可能會受到周圍環境氣體的影響。

US4,862,732公開了通過增加軟質容器內部壓力，對加壓的軟質容器泄漏的泄漏量進行確定的方法。當壓力太大時，需要承受待測樣本破裂或被損壞的風險。

US5,767,392公開了對軟質容器泄漏的檢測方法。在該方法中，從外部對軟質容器施加一個力以壓縮所述軟質容器，在外部壓力撤銷后，觀察容器壁的行為，進而實現對泄漏的檢測。同樣，在該方法中，如果施加的壓力太大容器可能被損壞或破裂，因此，需要對可施加的壓力進行限定。

US6,955,076公開了通過測試氣體對薄膜腔中待測樣本中泄漏的檢測方法。該方法被描述用于通過排空所述薄膜腔邊緣區體積，以提高薄膜腔的封閉能力以及氣密性，其中，所述邊緣區體積獨立于測試腔。因此，這樣可使得沒有來自薄膜腔周圍的氣體通過測試腔封閉區域中的泄漏點，進入測試腔影響測試結果。

發明內容

本發明的一目的在于提供一種簡化的用于在非剛性待測樣本上進行泄漏檢測的方法。

權利要求1對本發明的方法進行了定義。

首先，將剛性待測樣本插入到處于封閉狀態的薄膜腔中。薄膜腔為具有柔性壁的測試腔，所述柔性壁根據所述薄膜腔和周圍環境之間的壓力差改變其形狀。在所述待測樣本已經被插入到所述薄膜腔中之后，所述薄膜腔被封閉，在所述待測樣本外部的區域中，所述薄膜腔內部壓力被降低。在這個過程中，所述薄膜腔的柔性壁依附在待測樣本上。所述薄膜腔的薄膜從外部與所述測試腔接觸。然后，通過觀測所述薄膜腔的薄膜對泄漏進行檢測。其中，依附在所述待測樣本上的薄膜空間上的變化被理解為泄漏的一種標識。所述薄膜從外部支撐所述非剛性待測樣本，并防止所述待測樣本破裂。當所述薄膜腔內部的壓力降低時，所述薄膜依附在所述待測樣本上。

根據本發明的方法的特別有益的效果在于：在所述薄膜的位置變化或所述薄膜腔的體積變化的測試中，對所述薄膜腔的氣密性沒有特別的要求。然而，在用于在所述薄膜中測量壓力增量的傳統方法中，或在用于在所述薄膜腔中測量氣密性的傳統方法中，所述薄膜腔的氣密性對測量結果有明顯的影響，而所述薄膜腔的氣密性對于本發明來說，其重要性是微不足道的。只不過當允許對所述薄膜腔中的壓力進行降低時，應可獲得所述薄膜腔的氣密性。還可以通過使用一個具有相應高自吸能力的泵來降低有漏洞的薄膜腔中的壓力。尤其地，這足以只獲得所述薄膜的氣密性，該氣密性與測試下的待測樣本的氣密性相同或劣于測試下的待測樣本的氣密性。所述薄膜腔的泄漏量可以與待測樣本的泄漏量一樣高，或至少為待測樣本泄漏量的至少兩倍。

可以通過對所述薄膜表面的位置進行激光光學測量來執行所述空間變化的測量，例如，通過對激光照射到薄膜表面上的光偏轉變化來執行測量。在金屬化的薄膜表面，可以通過對電容變化的測量來執行所述空間變化測量。可選地，還可以使用一裝置，利用該裝置指示與所述薄膜表面的接觸或非接觸。例如，觸針或接觸測量器件可以機械地檢測薄膜表面中的位置變化。

根據本發明，優選地，不僅可以對泄漏進行檢測，而且也可以確定通過泄漏點的氣體的泄漏量。在這里，泄漏量可以根據測量的薄膜的空間變化來計算。鑒于此，該原理可以被應用。根據該原理，薄膜位置的變化越大，泄漏量越大。

優選地，在實施本發明方法時，薄膜腔中的壓力被減少，以比所述待測樣本中的壓力少至少500毫巴(mbar)，優選地，少至少950mbar。因此，這將在所述待測樣本外部薄膜腔的壓力和所述待測樣本內部壓力之間產生至少500mbar以及優選地至少950mbar的壓力差。通過將所述薄膜腔的薄膜依附到所述待測樣本并支撐所述待測樣本，較大的壓力差可以被產生，而不會破壞或損毀所述待測樣本。

當所述薄膜腔中壓力降低時，所述待測樣本中的氣壓可以被保持。

下面將參考圖對本發明的實施例進行詳細的描述。

附圖說明

圖示出了本發明實施的測量裝置。

具體實施方式