[發(fā)明專利]確定測量裝置的校準(zhǔn)的校準(zhǔn)時間間隔的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201280060630.7 | 申請日： | 2012-11-22 |
| 公開（公告）號： | CN103999003A | 公開（公告）日： | 2014-08-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 迪米特里·韋西埃 | 申請（專利權(quán)）人： | 恩德萊斯和豪瑟爾美斯泰科兩合公司 |
| 主分類號： | G05B19/401 | 分類號： | G05B19/401 |
| 代理公司： | 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人： | 張煥生;謝麗娜 |
| 地址： | 德國威*** | 國省代碼： | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 確定 測量 裝置 校準(zhǔn) 時間 間隔 方法 | ||
1.一種確定測量裝置的校準(zhǔn)的校準(zhǔn)時間間隔的方法，所述測量裝置用于測量待測的量，所述方法包括以下步驟：
-在第一校準(zhǔn)時間(T1)執(zhí)行所述裝置的第一校準(zhǔn)，其中，確定所述裝置的第一測量誤差(E1)，
-在所述第一測量誤差(E1)超過包括零的預(yù)定誤差范圍(ER)的情況下，調(diào)整、修理或替換所述裝置，并從頭重新開始所述方法，
-在第二校準(zhǔn)時間(T2)執(zhí)行所述裝置的第二校準(zhǔn)，其中，確定所述裝置的第二測量誤差(E2)，
-在所述第二測量誤差(E2)超過預(yù)定最大容許誤差(MPE)的情況下，調(diào)整、修理或替換所述裝置，并從頭重新開始所述方法，
-確定是否發(fā)生了所述第一測量誤差(E1)與所述第二測量誤差(E2)之間的顯著漂移(D)，并且
-在發(fā)生了顯著漂移(D)的情況下，確定應(yīng)執(zhí)行所述裝置的第三校準(zhǔn)的校準(zhǔn)時間作為第三時間(T3)，所述第三時間(T3)早于或等于在給定的置信度(γ)的情況下、根據(jù)所述裝置的測量誤差(E)將超過所述最大容許誤差(MPE)的越過時間(tS)的概率密度函數(shù)(PDFTS(tS))、所述裝置的測量誤差(E)將超過所述預(yù)定最大容許誤差(MPE)的時間(TS(γ))，
--所述概率密度函數(shù)(PDFTS(tS))基于下述內(nèi)容確定：所述第一測量誤差(E1)和所述第二測量誤差(E2)、用于確定所述第一校準(zhǔn)中僅由于所述第一校準(zhǔn)所固有的校準(zhǔn)不確定性而導(dǎo)致的測量誤差(ecal1)的概率密度函數(shù)(PDF1(ecal1))、用于確定所述第二校準(zhǔn)中僅由于所述第二校準(zhǔn)所固有的校準(zhǔn)不確定性而導(dǎo)致的測量誤差(ecal2)的概率密度函數(shù)(PDF2(ecal2))，以及所述第一校準(zhǔn)時間(T1)和所述第二校準(zhǔn)時間(T2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，
-把所述預(yù)定誤差范圍(ER)設(shè)定為對應(yīng)于依據(jù)所述第一校準(zhǔn)工序能夠執(zhí)行所述校準(zhǔn)的能力要求給定的所述第一校準(zhǔn)工序的不確定性的上限(Umax)，或者
-所述預(yù)定誤差范圍(ER)具有依據(jù)所述第一校準(zhǔn)所固有的不確定性的負(fù)值(-UE1)給定的下限和依據(jù)所述第一校準(zhǔn)所固有的不確定性的正值(+UE1)給定的上限，或者
--所述誤差范圍(ER)具有等于所述最大容許誤差(MPE)的上限(+MPE)的給定百分比(X％)的上限和等于所述最大容許誤差(MPE)的下限(-MPE)的給定百分比(X％)的下限，
-其中，所述最大容許誤差的上限的百分比(X％(+MPE))大于或等于所述第一校準(zhǔn)的不確定性的正值(+UE1)，并且小于所述最大容許誤差(MPE)的上限(+MPE)，并且
--其中，所述最大容許誤差的下限的百分比(X％(-MPE))小于或等于所述第一校準(zhǔn)的不確定性的負(fù)值(-UE1)，并且大于所述最大容許誤差(MPE)的下限(-MPE)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，產(chǎn)生隨機(jī)測量誤差的統(tǒng)計代表數(shù)對((E1’,E2’))，每個數(shù)對包括：
-第一隨機(jī)測量誤差(E1’)，所述第一隨機(jī)測量誤差(E1’)等于下述二者的和：所述第一測量誤差(E1)，以及根據(jù)用于確定校準(zhǔn)期間僅由于所述第一校準(zhǔn)工序所固有的不確定性導(dǎo)致的測量誤差(ecal1)的概率密度函數(shù)(PDF1(ecal1))所給定的概率分布產(chǎn)生的隨機(jī)增量(e1’)，以及
-第二隨機(jī)測量誤差(E2’)，所述第二隨機(jī)測量誤差(E2’)等于下述二者的和：所述第二測量誤差(E2)，以及根據(jù)用于確定校準(zhǔn)期間僅由于所述第二校準(zhǔn)工序所固有的不確定性導(dǎo)致的測量誤差(ecal2)的概率密度函數(shù)(PDF2(ecal2))所給定的概率分布產(chǎn)生的隨機(jī)增量(e2’)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于恩德萊斯和豪瑟爾美斯泰科兩合公司，未經(jīng)恩德萊斯和豪瑟爾美斯泰科兩合公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201280060630.7/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
