[發明專利]確定測量裝置的校準的校準時間間隔的方法

有效

• 申請號: 201280060630.7
• 申請日: 2012-11-22
• 公開（公告）號: CN103999003A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發明（設計）人: 迪米特里·韋西埃
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾美斯泰科兩合公司
• 主分類號: G05B19/401
• 分類號: G05B19/401
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 張煥生;謝麗娜

技術領域

本發明涉及一種確定用于測量待測量的量的測量裝置的校準的校準時間間隔的方法。

背景技術

測量裝置在幾乎所有工業分支中使用以用于測量物理量，特別是與進行中的生產過程相關的量。例如，指示由該裝置測量的量的值的測量指示通常在過程自動化中使用以用于在測量地點監視、控制和/或調節生產過程。

市場上存在各種測量裝置，如例如用于測量容器中的產品的物位的物位測量裝置、用于測量產品穿過管道的流動的流量計、溫度測量裝置或壓力測量裝置。

為確保這些裝置滿足為其規定的特定測量性質，特別是規定的測量精度和/或符合特定標準，定期地將其重新校準。

校準是用于建立用于從測量裝置的測量指示獲得所測量量的測量結果的關系的常用程序。此外，使用校準來檢查裝置對給定規范的合規性。在兩種情況下，測量裝置根據給定操作程序執行至少一個測量任務，在此期間通過對應參考或標準提供將通過該裝置測量的量的至少一個給定值。典型的操作程序包括在裝置的測量范圍內對例如該量的最小值和最大值的測量。在操作程序期間，記錄由參考或標準提供的量的值和測量裝置的對應測量指示。基于此數據，計算對應的測量誤差，在多數情況下將測量誤差確定為測量指示與由參考或標準提供的、待測量的量的對應值之間的差。

另外，提供依據標準或參考設置的量值與裝置的對應測量示數之間的最大容許誤差。在依據標準或參考設子的量值與由測量裝置所得出的對應測量示數之間的測量誤差超過最大容許誤差的情況下，將裝置視為不合規。因此，需要對測量裝置進行調整、修理或替換。通常基于在校準工序期間所獲得的數據來執行所需調整。其包括例如對測量指示的偏移、增益和/或跨度的調整。

如果測量誤差不超過最大容許誤差，則宣告裝置的合規性，并且通常不采取進一步動作。

今天，通常周期性地在固定校準時間間隔后對測量裝置進行校準，該固定校準時間間隔例如由制造商針對特定類型的裝置所建議的間隔。因此，不管在最后的校準期間確定大的測量誤差、例如非常接近超過最大容許誤差的誤差，還是非常小的測量誤差，均應用相同校準時間間隔。

在第一種情況下，存在高可能性的是：裝置的測量誤差在校準時間間隔期間將超過最大容許誤差。如果情況確實如此，則裝置的測量誤差可能在下一次校準之前的時間導致對測量地點的人員、環境以及進行中的生產過程的可能危險。

在第二種情況下，存在高可能性的是：裝置在校準時間間隔結束時仍將完全合規。因此，原本可以應用大得多的校準時間間隔而不會增加操作裝置所涉及的風險。連續校準之間的較大校準時間間隔在校準成本高且時間密集的應用中尤其有利，例如因為其需要關閉生產地點的整個區段，以便將裝置從其測量地點轉移到校準地點。

盡管如此，一般實際情況是對裝置應用固定標準校準時間間隔，而裝置被發現完全合規。

在EP1743226B1中描述一種用于確定現場裝置的連續維護服務之間的最優化服務間隔的方法，該方法適應在現場裝置的操作地點普遍的條件。根據此方法，基于服務信息來確定連續服務之間的時間間隔，服務信息包括在現場裝置的操作地點普遍的應用特有參數、裝置特有參數以及來自裝置的先前校準的歷史數據和校準數據。

因此，在例如遭受極端溫度、溫度變化、壓力和/或壓力變化的惡劣環境中操作或者暴露在腐蝕性和/或化學侵蝕性產物中的裝置的服務間隔將比在較友好的條件下操作的裝置的服務間隔短得多。

遺憾的是，應用相同方法以便最優化校準時間間隔通常不安全。其主要原因在于通常不可能預測最初完全合規的裝置將在什么時候或在哪個時間標度產生相關測量誤差。

發明內容

本發明的目的是提供一種確定用于測量待測量的量的測量裝置的校準的校準時間間隔的方法，其使得用戶能夠安全地最優化連續校準之間的校準時間間隔。

因此，本發明包括一種確定用于測量待測量的量的測量裝置的校準的校準時間間隔的方法，包括以下步驟：

-在第一校準時間執行裝置的第一校準，其中，確定裝置的第一測量誤差，

-在第一測量誤差超過包括零的預定誤差范圍的情況下調整、修理或替換裝置并從頭重新開始方法，

-在第二校準時間執行裝置的第二校準，其中，確定裝置的第二測量誤差，

-在第二測量誤差超過預定最大容許誤差的情況下調整、修理或替換裝置并從頭重新開始方法，

-確定是否發生了第一與第二測量誤差之間的顯著漂移，以及