[發(fā)明專利]用于檢查平板的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201280045201.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103858001B | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫載鎬;李賢玟;姜珉求;李相允;林雙根 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英泰克普拉斯有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/956 | 分類號(hào): | G01N21/956;G01B11/30;G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人: | 陳煒,李德山 |
| 地址: | 韓國大*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢查 平板 方法 | ||
1.一種用于檢查平板的方法,所述方法包括:
通過水平地移動(dòng)所述平板和照相機(jī)中的至少一個(gè)而在所述平板的測(cè)量位置處布置所述照相機(jī);
在所述測(cè)量位置處通過自動(dòng)聚焦模塊將所述照相機(jī)自動(dòng)地聚焦到所述平板的待測(cè)量目標(biāo)上;
通過基于所述照相機(jī)的當(dāng)前位置而在設(shè)定區(qū)域內(nèi)垂直地移動(dòng)被聚焦的照相機(jī)來獲取所述待測(cè)量目標(biāo)的多個(gè)圖像;
在多個(gè)所獲取的圖像當(dāng)中選擇具有最高清晰度的圖像,以處理所選擇的圖像;以及
確定所述待測(cè)量目標(biāo)是否有缺陷,
其中所述設(shè)定區(qū)域中的拍攝間隔距離寬于所述自動(dòng)聚焦模塊的可重復(fù)性距離,并且在所獲取的多個(gè)圖像之間的拍攝間隔距離窄于所述自動(dòng)聚焦模塊的可重復(fù)性距離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述獲取多個(gè)圖像包括通過壓電致動(dòng)器垂直地移動(dòng)所述照相機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述待測(cè)量目標(biāo)是形成在所述平板中的像素電路圖案;以及
所述確定所述待測(cè)量目標(biāo)是否有缺陷包括:對(duì)所選擇的圖像的所述電路圖案的圖案寬度和/或線寬進(jìn)行測(cè)量,以及將所測(cè)量的所述電路圖案的圖案寬度和/或線寬與參考值進(jìn)行比較,以確定所述電路圖案是否有缺陷。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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