[發明專利]用于非易失性存儲器的片上動態讀取有效
| 申請號: | 201280043430.0 | 申請日: | 2012-09-13 |
| 公開(公告)號: | CN103843067A | 公開(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發明(設計)人: | 迪潘舒·杜塔;達納·李;杰弗里·盧茨 | 申請(專利權)人: | 桑迪士克科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C11/56 | 分類號: | G11C11/56;G11C16/26;G11C16/34 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 楊生平;鐘錦舜 |
| 地址: | 美國德*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 非易失性存儲器 動態 讀取 | ||
1.一種操作非易失性存儲器的方法,包括:
在第一讀取電平集合處讀取存儲器裸片上的非易失性存儲元件組(802),所述非易失性存儲元件組存儲多個數據狀態;
在所述存儲器裸片上存儲所述讀取電平的兩個最新結果(804);
確定在兩個最新讀取電平的讀取之間在所述組中有多少被示出不同結果的非易失性存儲元件的計數,使用所述存儲器裸片上存儲的所述結果來在所述存儲器裸片上執行所述確定(806);并且
基于當所述計數達到預定標準時的讀取電平來建立用于區別所述多個數據狀態中的第一相鄰數據狀態對的動態讀取電平(808)。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述非易失性存儲元件組的一部分存儲錯誤校正碼,達到預定標準的所述計數包括低于閾值的計數,其中,所述閾值與能夠通過使用所述錯誤校正碼來施加錯誤校正以校正的水平對應。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其中,所述第一讀取電平集合中的第一讀取電平為默認讀取電平,并且所述第一讀取電平集合中的第二讀取電平位于以下方向,在該方向上期望所述非易失性存儲元件組的閾值分布隨著時間的推移而移動。
4.根據權利要求1至3中的任一項的方法,其中,所述非易失性存儲元件組與第一字線相關聯,并且還包括將所述第一動態讀取電平用作用于區別與其它字線相關聯的非易失性存儲元件的所述第一相鄰數據狀態對的初始讀取電平。
5.根據權利要求1至4中的任一項的方法,其中,所述讀取電平彼此相差統一步長。
6.根據權利要求5所述的方法,其中,所述動態讀取電平為第一動態讀取電平,并且還包括:
在彼此相差統一步長的第二讀取電平集合處讀取所述非易失性存儲元件組;
在所述存儲器裸片上存儲第二讀取電平集合的兩個最新結果;并且
確定在所述第二集合中的兩個最新讀取電平的讀取之間在所述組中有多少被示出不同結果的非易失性存儲元件的計數,使用在所述存儲器裸片上存儲的所述結果來在所述存儲器裸片上執行所述確定;并且
基于當所述計數達到預定標準時的讀取電平來建立用于區別所述多個數據狀態中的第二相鄰數據狀態對的第二動態讀取電平。
7.根據權利要求6所述的方法,還包括:
基于用于區別所述第一相鄰數據狀態對的第一動態讀取電平來確定用于第二讀取電平集合的初始讀取電平。
8.根據權利要求1至4中的任一項的方法,其中,所述第一讀取電平集合中的至少兩個讀取電平具有相同的大小。
9.根據權利要求1所述的方法,其中,達到所述預定標準的所述計數包括達到最小值的所述計數。
10.根據權利要求1至9中的任一項的方法,其中,所述存儲在每個所述讀取電平處的讀取的結果包括:在第一數據鎖存器中存儲從第一讀取電平處讀取的結果以及在第二數據鎖存器中存儲從第二讀取電平處讀取的結果,所述確定在兩個最新讀取電平的讀取之間在所述組中有多少被示出不同結果的非易失性存儲元件的計數包括:執行所述第一數據鎖存器中的結果與所述第二數據鎖存器中的結果的異或。
11.一種非易失性存儲器設備,包括:
存儲器裸片(212);
在所述存儲器裸片(212)上的非易失性存儲元件組,所述非易失性存儲元件組存儲多個數據狀態;
與所述非易失性存儲元件組進行通信的一個或多個管理電路(220,230,242,244),所述一個或多個管理電路在第一讀取電平集合處讀取所述非易失性存儲元件組,所述一個或多個管理電路在所述存儲器裸片上存儲所述讀取電平的兩個最新結果,所述一個或多個管理電路確定在兩個最新讀取電平的讀取之間在所述組中有多少被示出不同結果的非易失性存儲元件的計數,所述一個或多個管理電路使用在所述存儲器裸片上存儲的所述結果來確定在所述存儲器裸片上的計數,所述一個或多個管理電路基于當所述計數達到預定標準時的所述讀取電平來建立用于區別所述多個數據狀態中的第一相鄰數據狀態對的所調節的讀取電平。
12.根據權利要求11所述的非易失性存儲器設備,其中,所述非易失性存儲元件組中的一些非易失性存儲元件存儲錯誤校正碼,所述一個或多個管理電路確定所述計數是否達到閾值,所述閾值與能夠通過使用所述錯誤校正碼來施加錯誤校正以校正的水平對應,以確定所述計數是否達到所述預定標準。
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