[發(fā)明專利]太陽能電池及其制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201280034187.6 | 申請日: | 2012-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN103688371A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鮫島俊之;安東靖典 | 申請(專利權(quán))人: | 國立大學(xué)法人東京農(nóng)工大學(xué);日新電機(jī)株式會社 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/075;H01L31/0368 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 張洋 |
| 地址: | 日本東京*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 太陽能電池 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種具有在結(jié)晶硅(silicon)基板上形成有硅薄膜的結(jié)構(gòu)的、所謂混合(hybrid)型的太陽能電池及其制造方法。
背景技術(shù)
作為具有在結(jié)晶硅基板上層疊有非晶質(zhì)(無定形(amorphous))硅薄膜的結(jié)構(gòu)的太陽能電池的一例,被廣泛知曉的是如下結(jié)構(gòu)的太陽能電池,即:在結(jié)晶硅基板的兩面形成i型(即,本征(intrinsic))非晶質(zhì)硅薄膜,且在其中之一的i型非晶質(zhì)硅薄膜的表面形成p型非晶質(zhì)硅薄膜,而在另一i型非晶質(zhì)硅薄膜的表面形成n型非晶質(zhì)硅薄膜(例如參照專利文獻(xiàn)1)。
在上述p型、n型非晶質(zhì)硅薄膜的更外側(cè),分別形成有透明導(dǎo)電膜及用于導(dǎo)出光電流的梳型電極。
先前,上述非晶質(zhì)硅薄膜是通過如下方式而形成,即:其通過由電容耦合生成等離子體(plasma)的電容耦合型等離子體化學(xué)氣相沉積(Chemical?Vapor?Deposition,CVD)法,使用硅烷氣體(silane?gas)(SiH4)及氫氣(H2)作為原料氣體,通過電解而使該原料氣體堆積于基板上。而且,在形成p型、n型的摻雜(dope)薄膜時(shí),分別在上述原料氣體中少量混合六氫化二硼(diborane)(B2H6)、三氫化磷(phosphine)(PH3)來使用。
已知有如下方案:在結(jié)晶硅基板上,在該結(jié)晶硅基板與作為接觸(contact)層的上述p型、n型非晶質(zhì)硅薄膜之間,插入未摻雜雜質(zhì)的上述i型非晶質(zhì)硅薄膜,從而能夠延長界面上的載流子(carrier)壽命,由此,能夠增大太陽能電池的開路電壓(open?circuit?voltage),提高轉(zhuǎn)換效率。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本專利特開平10-135497號公報(bào)(段落0038-0040,圖4)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
如在非晶質(zhì)硅的物性方面廣泛知曉的,薄膜中的氫會補(bǔ)償硅的未鍵結(jié)鍵,從而大幅有助于作為半導(dǎo)體的特性呈現(xiàn)及性能提高。因而,對于結(jié)晶硅與非晶質(zhì)硅薄膜的界面而言,氫對于成膜過程中及成膜后的界面的幫助也大。
但是,大量的氫反而會產(chǎn)生缺陷,從而導(dǎo)致載流子壽命降低。因此,存在如下課題:結(jié)晶硅/i型薄膜/摻雜(p型、n型)薄膜的氫濃度分布的微妙結(jié)構(gòu)成為必要,成膜工藝(process)的控制甚為困難。
而且,已知的是:在先前作為成膜方法而使用的電容耦合型的等離子體CVD法中,一般要對等離子體施加高電壓,因此等離子體電位高。其結(jié)果,朝向基板表面的入射離子(ion)的能量(energy)高,朝向基板與薄膜的界面及成膜過程中的薄膜表面的離子沖擊大,因此存在如下課題:容易在界面及堆積薄膜中產(chǎn)生缺陷,這會導(dǎo)致載流子壽命降低。
進(jìn)而,電容耦合型的等離子體CVD法中的借由高頻放電的氣體分解效率低,因此在以作為氫化物的硅烷及氫為原料的成膜工序中,將在薄膜中含有過量的氫,這也成為導(dǎo)致載流子壽命降低的因素。
因此,本發(fā)明的主要目的在于提供一種太陽能電池的制造方法,能夠進(jìn)行在成膜時(shí)缺陷少且不含過量的氫的薄膜形成,進(jìn)而,能夠在成膜后對在成膜時(shí)產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行補(bǔ)償,以減少界面及薄膜中的缺陷,由此,能夠?qū)崿F(xiàn)長載流子壽命。
解決問題的技術(shù)手段
本發(fā)明的制造方法是具有在結(jié)晶硅基板上形成有硅薄膜的結(jié)構(gòu)的太陽能電池的制造方法,其特征在于包括:薄膜形成工序,其通過由電感耦合生成等離子體的電感耦合型等離子體CVD法,在所述結(jié)晶硅基板上,形成包含微小的硅結(jié)晶的微晶硅薄膜,以作為所述硅薄膜;以及水蒸氣熱處理工序,其在5×105Pa以上壓力的水蒸氣環(huán)境中,對形成有所述微晶硅薄膜的所述結(jié)晶硅基板實(shí)施熱處理。
優(yōu)選的是,將所述薄膜形成工序中的所述結(jié)晶硅基板的溫度設(shè)為100℃~300℃。
優(yōu)選的是,將所述水蒸氣熱處理工序中的溫度設(shè)為150℃~300℃,水蒸氣壓力設(shè)為5×105Pa~1.5×106Pa,處理時(shí)間設(shè)為0.5小時(shí)~3小時(shí)。
當(dāng)所述太陽能電池具有如下結(jié)構(gòu)時(shí),即,在結(jié)晶硅基板的兩面形成有i型硅薄膜,且在其中之一的i型硅薄膜的表面形成有p型硅薄膜,而在另一i型硅薄膜的表面形成有n型硅薄膜時(shí),也可通過所述薄膜形成工序,形成相應(yīng)型的所述微晶硅薄膜,以作為所述i型硅薄膜、p型硅薄膜及n型硅薄膜中的至少一者,隨后實(shí)施所述水蒸氣熱處理工序。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





