[發明專利]太陽能電池及其制造方法無效
| 申請號: | 201280034187.6 | 申請日: | 2012-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN103688371A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發明(設計)人: | 鮫島俊之;安東靖典 | 申請(專利權)人: | 國立大學法人東京農工大學;日新電機株式會社 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/075;H01L31/0368 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 張洋 |
| 地址: | 日本東京*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽能電池 及其 制造 方法 | ||
1.一種太陽能電池的制造方法,所述太陽能電池具有在結晶硅基板上形成有硅薄膜的結構,其特征在于,包括:
薄膜形成工序,其通過由電感耦合生成等離子體的電感耦合型等離子體CVD法,在所述結晶硅基板上,形成包含微小的硅結晶的微晶硅薄膜,以作為所述硅薄膜;以及
水蒸氣熱處理工序,其在5×105Pa以上壓力的水蒸氣環境中,對形成有所述微晶硅薄膜的所述結晶硅基板實施熱處理。
2.根據權利要求1所述的太陽能電池的制造方法,其特征在于,
將所述薄膜形成工序中的所述結晶硅基板的溫度設為100℃~300℃。
3.根據權利要求1或2所述的太陽能電池的制造方法,其特征在于,
將所述水蒸氣熱處理工序中的溫度設為150℃~300℃,水蒸氣壓力設為5×105Pa~1.5×106Pa,處理時間設為0.5小時~3小時。
4.根據權利要求1、2或3所述的太陽能電池的制造方法,其特征在于,
所述太陽能電池具有如下結構:在結晶硅基板的兩面形成有i型硅薄膜,且在其中之一的i型硅薄膜的表面形成有p型硅薄膜,而在另一i型硅薄膜的表面形成有n型硅薄膜;
通過所述薄膜形成工序,形成i型的所述微晶硅薄膜,以作為所述i型硅薄膜,
隨后執行所述水蒸氣熱處理工序。
5.根據權利要求1、2或3所述的太陽能電池的制造方法,其特征在于,
所述太陽能電池具有如下結構:在結晶硅基板的兩面形成有i型硅薄膜,且在其中之一的i型硅薄膜的表面形成有p型硅薄膜,而在另一i型硅薄膜的表面形成有n型硅薄膜;
通過所述薄膜形成工序,分別形成p型的所述微晶硅薄膜及n型的所述微晶硅薄膜,以作為所述p型硅薄膜及所述n型硅薄膜,
隨后執行所述水蒸氣熱處理工序。
6.根據權利要求1、2或3所述的太陽能電池的制造方法,其特征在于,
所述太陽能電池具有如下結構:在結晶硅基板的兩面形成有i型硅薄膜,且在其中之一的i型硅薄膜的表面形成有p型硅薄膜,而在另一i型硅薄膜的表面形成有n型硅薄膜;
通過所述薄膜形成工序,形成i型的所述微晶硅薄膜,以作為所述i型硅薄膜,且分別形成p型的所述微晶硅薄膜及n型的所述微晶硅薄膜,以作為所述p型硅薄膜及所述n型硅薄膜,
隨后執行所述水蒸氣熱處理工序。
7.根據權利要求1、2或3所述的太陽能電池的制造方法,其特征在于,
所述太陽能電池具有如下結構:在結晶硅基板上形成有i型硅薄膜,且在所述硅薄膜上形成功函數互不相同的第1電極及第2電極;
通過所述薄膜形成工序,形成i型的所述微晶硅薄膜,以作為所述i型硅薄膜,
隨后執行所述水蒸氣熱處理工序。
8.一種太陽能電池,其特征在于,所述太陽能電池是通過如權利要求1至7中任一所述的太陽能電池的制造方法而制造。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





