[發(fā)明專利]III族氮化物半導(dǎo)體元件及III族氮化物半導(dǎo)體元件的制造方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201280032130.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-06-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103650263A | 公開(公告)日: | 2014-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鹽谷陽平;善積祐介;京野孝史;住友隆道;上野昌紀(jì);梁島克典;田才邦彥;中島博 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 住友電氣工業(yè)株式會(huì)社;索尼株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01S5/042 | 分類號(hào): | H01S5/042;H01S5/343 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 權(quán)太白;謝麗娜 |
| 地址: | 日本大阪*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | iii 氮化物 半導(dǎo)體 元件 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種III族氮化物半導(dǎo)體元件及III族氮化物半導(dǎo)體元件的制造方法。
背景技術(shù)
在專利文獻(xiàn)1中公開有一種以降低驅(qū)動(dòng)電壓為目的的關(guān)于發(fā)光元件的技術(shù)。
此外,在非專利文獻(xiàn)1及2中記載有關(guān)于壓電電場的計(jì)算。
在先技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開平08-97471號(hào)公報(bào)
非專利文獻(xiàn)
非專利文獻(xiàn)1:Japanese?Journal?of?Applied?Physics,Vol.39(2000)pp.413
非專利文獻(xiàn)2:Journal?of?Applied?Physics,Vol.91No.12(2002)pp.9904
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題
在專利文獻(xiàn)1中,在藍(lán)寶石基板之上形成有500埃的AlN的緩沖層、膜厚約2.0微米且電子濃度2×1018/cm3的摻Si的GaN的高載流子濃度n+層、膜厚約2.0μm且電子濃度2×1018/cm3的摻Si的(Alx2Ga1-x2)y2In1-y2N的高載流子濃度n+層、膜厚約0.5μm的摻Mg、Zn及Si的(Alx1Ga1-x1)y1In1-y1N的p傳導(dǎo)型發(fā)光層、膜厚約1.0μm且空穴濃度2×1017/cm3的摻Mg的(Alx2Ga1-x2)y2In1-y2N的p層、膜厚約0.2μm且空穴濃度5×1017/cm3的由Mg濃度1×1020/cm3的摻Mg的GaN構(gòu)成的第2接觸層、及膜厚約500埃且空穴濃度2×1017/cm3的由Mg濃度2×1020/cm3的摻Mg的GaN構(gòu)成的第1接觸層。進(jìn)而,形成有與p層和高載流子濃度n+層分別連接的由鎳形成的兩個(gè)電極。
專利文獻(xiàn)1所記載的發(fā)光元件尤其包含:設(shè)置于藍(lán)寶石基板的c面之上的最表面的高M(jìn)g濃度的p型的第1接觸層、及設(shè)置于該第1接觸層之下的低Mg濃度的p型的第2接觸層。第1接觸層的Mg濃度為1×1020cm-3以上且1×1021cm-3以下,第2接觸層的Mg濃度為1×1019cm-3以上且5×1020cm-3以下。關(guān)于第1及第2接觸層的膜厚,公開有50nm與200nm。
摻Mg的p型氮化鎵的接觸層的接觸電阻根據(jù)Mg濃度而增減。接觸電阻的值在Mg濃度為1×1020cm-3左右的情況下比較小。然而,在Mg濃度如此高的情況下,結(jié)晶性降低而導(dǎo)致p型載流子濃度的降低。因此,希望開發(fā)具有接觸電阻、結(jié)晶性及載流子濃度均良好的p型接觸層的III族氮化物半導(dǎo)體元件。因此,本發(fā)明的目的在于提供一種包含無損結(jié)晶性而具有比較小的接觸電阻與比較高的載流子濃度的p型接觸層的III族氮化物半導(dǎo)體元件及III族氮化物半導(dǎo)體元件的制造方法。
用于解決問題的技術(shù)手段
本發(fā)明的III族氮化物半導(dǎo)體元件的特征在于,包括:氮化鎵系半導(dǎo)體的發(fā)光層;第1接觸層,其設(shè)置于上述發(fā)光層上;第2接觸層,其設(shè)置于上述第1接觸層上,與上述第1接觸層直接接觸;以及金屬電極,其設(shè)置于上述第2接觸層上,與上述第2接觸層直接接觸,上述第1接觸層及上述第2接觸層由p型的同一氮化鎵系半導(dǎo)體構(gòu)成,上述第1接觸層的p型摻雜劑的濃度低于上述第2接觸層的p型摻雜劑的濃度,上述第1接觸層與上述第2接觸層的界面自與沿c軸延伸的基準(zhǔn)軸正交的面以50度以上且小于130度的角度傾斜,上述發(fā)光層的發(fā)光波長為480nm以上600nm以下,上述第2接觸層的膜厚為1nm以上50nm以下。而且,上述第2接觸層的膜厚可為1nm以上20nm以下。
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