[發明專利]掛面的裂紋發生預測裝置和分類系統無效

申請號：	201280030000.5	申請日：	2012-06-18
公開（公告）號：	CN103608667A	公開（公告）日：	2014-02-26
發明（設計）人：	樋口雅弘;吉田智	申請（專利權）人：	日清制粉集團本社股份有限公司
主分類號：	G01N21/89	分類號：	G01N21/89;G01N21/23;G01N21/892;A23L1/16
代理公司：	北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100	代理人：	劉秀青
地址：	日本東京都千代***	國省代碼：	日本;JP
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摘要：
搜索關鍵詞：	掛面裂紋發生預測裝置分類系統
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及掛面的裂紋發生預測裝置，特別涉及預測細面條等掛面中裂紋的產生的裝置。

另外，本發明也涉及對裂紋的產生被預測后的掛面進行分類的掛面分類系統。

背景技術

一般，細面條等掛面是通過使用形成有噴嘴孔的模具將面材料擠出成形后，使其干燥而被制造的，噴嘴孔的形狀與掛面的截面形狀對應。這些掛面雖然具有對應于不同種類的形狀、色彩等，但在生產線上大量制造掛面時，因各種因素，有時會產生形狀不良、顏色不均勻等的缺陷品。

因此，為了提高從制造工廠出廠的制品的質量，使用對所制造的掛面的外觀進行檢查的裝置。例如，專利文獻1公開一種通過獲得方便面的彩色圖像來檢查形狀異常、色彩異常的檢查裝置，專利文獻2公開一種利用CCD照相機拍攝細面條來檢查產生色彩異常的細面條的裝置。

專利文獻

專利文獻1：日本特開2003-35675號公報

專利文獻2：日本特開2005-324101號公報

發明內容

發明要解決的問題

如專利文獻1、2所記載，通過獲得掛面的光學圖像，能夠從所制造的掛面檢測出外觀出現異常的掛面。

然而，眾所周知存在這樣的掛面，即盡管在剛制造后的外觀上未發現任何異常，但隨著時間的經過而在軸向上產生裂紋。產生這樣的裂紋的掛面雖然損害制品的外觀，但由于在剛制造后的掛面上尚未產生裂紋，即使將專利文獻1、2公開的裝置連接在生產線上進行外觀檢查，也不能發現裂紋。

本發明為了解決上述問題而成，其目的在于提供一種掛面的裂紋發生預測裝置，該裝置能夠事先預測掛面中裂紋的產生。

另外，本發明的目的在于提供一種對用這種裂紋發生預測裝置預測產生裂紋的掛面進行分類的掛面分類系統。

用于解決問題的手段

本發明涉及的掛面的裂紋發生預測裝置具備：向掛面照射偏振光的光源部；根據相對于從光源部照射的偏振光的掛面的透過光，獲得掛面的相位差像的拍攝部；以及根據在拍攝部獲得的相位差像測量掛面具有的雙折射相位差量，并根據所測量的雙折射相位差量來評價掛面內的殘留應力，預測掛面中是否產生裂紋的預測部。

優選地，光源部包含鹵素燈；將來自鹵素燈的光轉換為圓偏振光的圓偏振光濾光器；以及用于將被圓偏振光濾光器轉換后的圓偏振光向掛面聚光的聚光透鏡。拍攝部包含將來自掛面的光轉換為平行光的物鏡；從被物鏡轉換后的平行光解析橢圓偏振光的橢圓偏振光解析器；和利用透過橢圓偏振光解析器的光，獲得掛面的相位差像的CCD照相機。

另外，預測部根據所測量的雙折射相位差量來計算掛面的軸向殘留應力，當計算出的殘留應力超過規定閾值的情況下，能夠預測在掛面內產生裂紋。

本發明涉及的掛面的分類系統具備搬送掛面的搬送部；預測被搬送部搬送的掛面中是否產生裂紋的所述裂紋發生預測裝置；和對被裂紋發生預測裝置預測裂紋的產生后的掛面從搬送部進行分類的分類部。

發明的效果

根據本發明，由于拍攝部獲得掛面的相位差像，預測部根據該相位差像來測量掛面具有的雙折射相位差量，并根據雙折射相位差量來評價掛面內的殘留應力，所以能夠事先預測掛面中是否產生裂紋。

附圖說明

圖1是顯示本發明實施方式1涉及的掛面的裂紋發生預測裝置的構成的框圖。

圖2是模式地顯示殘留應力和雙折射的關系的圖。

圖3A是表示即使時間經過也未產生裂紋的細面條的相位差像的照片。

圖3B是表示即使時間經過也未產生裂紋的細面條的光學顯微鏡像的照片。

圖4A是表示隨著時間的經過，產生了裂紋的細面條的相位差像的照片。

圖4B是表示隨著時間的經過，產生了裂紋的細面條的光學顯微鏡像的照片。

圖5是顯示實施方式2涉及的掛面的分類系統的構成的框圖。