[發明專利]掛面的裂紋發生預測裝置和分類系統

無效

• 申請號: 201280030000.5
• 申請日: 2012-06-18
• 公開（公告）號: CN103608667A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發明（設計）人: 樋口雅弘;吉田智
• 申請（專利權）人: 日清制粉集團本社股份有限公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89;G01N21/23;G01N21/892;A23L1/16
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 劉秀青

1.掛面的裂紋發生預測裝置，其特征在于，具備：

向掛面照射偏振光的光源部；

拍攝部，根據相對于從所述光源部照射的偏振光的所述掛面的透過光，獲得所述掛面的相位差像；以及

預測部，根據在所述拍攝部獲得的相位差像測量所述掛面具有的雙折射相位差量，并根據所測量的雙折射相位差量來評價所述掛面內的殘留應力，預測所述掛面中是否產生裂紋。

2.根據權利要求1所述的掛面的裂紋發生預測裝置，其特征在于，所述光源部包含：鹵素燈；將來自所述鹵素燈的光轉換為圓偏振光的圓偏振光濾光器；以及用于將被所述圓偏振光濾光器轉換后的圓偏振光向所述掛面聚光的聚光透鏡；

所述拍攝部包含：將來自所述掛面的光轉換為平行光的物鏡；從被所述物鏡轉換后的平行光解析橢圓偏振光的橢圓偏振光解析器；以及利用透過所述橢圓偏振光解析器的光，獲得所述掛面的相位差像的CCD照相機。

3.根據權利要求1或2所述的掛面的裂紋發生預測裝置，其特征在于，所述預測部根據所測量的雙折射相位差量計算所述掛面的軸向殘留應力，當計算出的殘留應力超過規定閾值時，預測在所述掛面內產生裂紋。

4.掛面的分類系統，其特征在于，具備：

搬送掛面的搬送部；

預測被所述搬送部搬送的掛面中是否產生裂紋的權利要求1～3中任一項所述的裂紋發生預測裝置；以及

從所述搬送部對被所述裂紋發生預測裝置預測裂紋的產生后的掛面進行分類的分類部。