[發明專利]用于使用熱成像檢測和修復電致變色裝置中的缺陷的系統和方法

無效

• 申請號: 201280026187.1
• 申請日: 2012-03-29
• 公開（公告）號: CN103562962A
• 公開（公告）日: 2014-02-05
• 發明（設計）人: 史蒂夫·帕姆;讓·克利斯朵夫·吉龍;菲利普·雷托卡特;杰羅姆·盧瑟拉德;奧利維爾·塞列斯;卡佳·維爾納
• 申請（專利權）人: 賽智電致變色公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G01N25/72;H01L31/20
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 倪小敏

1.一種用于檢測和修復電致變色裝置中的缺陷的系統，所述系統包含：

熱成像單元，用于獲取所述裝置處于運行狀態時所述電致變色裝置的熱圖像；以及

控制單元，用于使用代表所述熱圖像的熱成像數據，通過將在所述熱圖像的一個或多個像素檢測到的熱幅度與預定的值相比較，檢測所述電致變色裝置上的缺陷，并且確定所述裝置中與檢測到的缺陷相對應的位置。

2.根據權利要求1所述的系統，所述系統進一步包含：

激光裝置單元，用于發射激光，從而燒蝕所述裝置中與檢測到的缺陷相對應的位置。

3.根據權利要求1所述的系統，所述系統進一步包含：

冷卻器單元，用于控制獲取熱圖像時所述裝置的溫度。

4.根據權利要求1所述的系統，其中當在一個或多個像素檢測到的熱幅度不小于預定的值時，所述控制單元確定所述一個或多個像素對應于所述裝置上缺陷的位置。

5.根據權利要求1所述的系統，其中所述控制單元處理所述熱成像數據，以提高信號噪聲比，所述信號噪聲比是對應于檢測到的缺陷的熱圖像部分的熱幅度，與對應于檢測到的缺陷的熱圖像部分附近的熱圖像部分的熱幅度的比。

6.根據權利要求1所述的系統，其中所述控制單元用于控制設有所述裝置的表面的熱狀態，該表面與得到所述熱圖像的所述裝置的表面相反。

7.根據權利要求6所述的系統，其中所述控制單元用于控制所述表面的熱狀態，從而提高信號噪聲比，所述信號噪聲比是對應于檢測到的缺陷的熱圖像部分的熱幅度，與對應于檢測到的缺陷的熱圖像部分附近的熱圖像部分的熱幅度的比。

8.根據權利要求1所述的系統，其中所述預定的值不同于從所述電致變色裝置的熱圖像確定的熱幅度。

9.根據權利要求1所述的系統，其中所述預定的值對應于從所述熱圖像數據確定的熱幅度。

10.根據權利要求1所述的系統，其中所述控制單元使用鎖定方法，處理分別代表由所述熱成像單元得到的一系列熱圖像的所述熱成像數據，以提高檢測到的缺陷的信號噪聲比。

11.根據權利要求1所述的系統，所述系統進一步包含：

修復單元，用于向所述裝置施加電流，從而修復檢測到的缺陷。

12.根據權利要求11所述的系統，其中所述控制單元根據所述熱成像數據控制所述修復單元。

13.一種使用熱成像檢測和修復電致變色裝置中的缺陷的方法，所述方法包含：

獲取所述裝置處于運行狀態時所述電致變色裝置的熱圖像；以及

處理代表所述熱圖像的熱成像數據，通過將在所述熱圖像的一個或多個像素檢測到的熱幅度與預定的值相比較，檢測所述電致變色裝置上的缺陷，并且確定所述電致變色裝置中與檢測到的缺陷相對應的位置。

14.根據權利要求13所述的方法，所述方法進一步包含：

根據被確定的位置，控制所述電致變色裝置上檢測到的缺陷的修復。

15.根據權利要求14所述的方法，其中所述修復包含：發射激光，從而燒蝕所述裝置中與檢測到的缺陷相對應的位置。

16.根據權利要求14所述的方法，所述方法進一步包含：

在從包含多個電致變色裝置中的所述電致變色裝置的面板切割所述電致變色裝置之前，進行所述修復。

17.根據權利要求13所述的方法，所述方法進一步包含：

控制獲取熱圖像時所述電致變色裝置的溫度。

18.一種用于檢測和修復電致變色裝置中的缺陷的系統，所述系統包含：

熱成像單元，用于獲取所述裝置處于運行狀態時所述電致變色裝置的熱圖像；

控制單元，用于處理所述熱圖像的熱成像數據，從而檢測所述電致變色裝置上的缺陷，并且確定所述裝置中與檢測到的缺陷相對應的位置；

激光裝置單元，用于發射激光，從而燒蝕所述裝置中與檢測到的缺陷相對應的位置；以及

冷卻器單元，用于控制獲取熱圖像時所述裝置的溫度；

其中所述控制單元將在所述熱圖像的像素檢測到的熱幅度與預定的值相比較，以確定該像素是否對應于所述裝置中缺陷的位置。