[發明專利]具有變暗的多層導體跡線的圖案化基底

有效

• 申請號: 201280005909.5
• 申請日: 2012-02-01
• 公開（公告）號: CN103329643A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發明（設計）人: 馬修·H·弗雷;斯蒂芬·P·梅基
• 申請（專利權）人: 3M創新有限公司
• 主分類號: H05K9/00
• 分類號: H05K9/00;B32B3/12
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 丁業平;金小芳

相關專利申請的交叉引用

本專利申請要求提交于2011年2月2日的第61/438,800號美國臨時專利申請的權益，該專利申請的公開內容以引用方式全文并入本文中。

背景技術

本領域中已知，在需要透光率以及電導率的應用中使用基于金屬的導體網格。此類應用的實例包括屏蔽顯示器的電磁干擾。在工業中，網格通常理解為表示具有連接跡線的圖案幾何形狀，所述連接跡線由開放區域隔開以形成多個單元。

通過觀察發現在當前的產品中，一些網格設計在一體化到顯示器中以及在反射的平行光束（例如，直射的陽光）下觀察時，可能產生不良的視覺效應。示例性的不良視覺效應包括例如由光干涉引起的反射光的星放射狀模式（starburst?pattern）以及彩色反射光（類似于彩虹）的譜帶，上述每個現象能在包含線性跡線以及重復的單元幾何形狀的網格設置在未改的基底（例如，塑料膜或玻璃）上時被觀察到。具有線性跡線的網格的示例性實例包括具有六邊形以及正方形單元的網格。基于線性跡線的導體網格也可能出現閃光，閃光是反射光點的不期望的視覺呈現。

本領域的一些技術人員已試圖減少對疊加的網格微圖案的視覺呈現，方法是在制造諸如觸摸屏顯示器這樣的顯示器時使用波形跡線。例如，參見第WO?2010/099132?A2號PCT國際公開案，其描述了一種制品，例如天線、電磁干擾屏蔽罩以及具有一個透光基底和兩個導電網格的觸摸屏傳感器，每個網格都具有線性跡線，其中第一網格按照一定的構造與第二網格疊加，從而將跡線的可見度最小化。

其他技術人員人已試圖使用環境光減少構件，例如，光學干涉構件。參見第WO?2003/105248號PCT國際公開案，其公開了一種光學干涉構件，所述構件包括：半吸收構件層，用于反射一部分入射環境光；基本透明層，用于相移另一部分環境光；以及反射層，用于反射相移后的環境光，以使得光的兩個反射部分異相并且從而進行相消干涉。

發明內容

需要改善基于金屬的導體網格的視覺外觀，以當網格被一體化到顯示器中并且在諸如直射陽光這樣的反射的平行光束下觀察時降低其可見度。

本發明提供多種制品，其使用與導體微圖案的設計組合的改進的基底或導電光學干涉層。當一體化到顯示器或裝置中時，在光下觀察所述顯示器或裝置的時候，該組合降低了不良視覺效應，例如，星放射狀、閃光、光暈以及彩虹，所述光包括但不限于平行光或幾乎平行的光，例如陽光。

一方面，本發明涉及一種制品，其包括（a）具有相對的第一表面和第二表面的基底；以及（b）設置在所述基底的第一表面上的導體微圖案，所述導體微圖案包含界定多個單元的多條跡線，其中所述導體微圖案具有大于80%的開放區域比率以及均勻的跡線取向的分布；并且跡線中的每一條各自具有0.5微米至10微米的跡線寬度，并且其中所述導體微圖案包含三層材料，所述三層材料按照順序包含半反射金屬、透明層以及設置在透明層上的反射層。

附圖說明

結合以下附圖可以進一步描述本發明，其中：

圖1是一種規則六邊形微圖案的示意性俯視平面圖；

圖2是一種多邊形微圖案的一部分的示意性俯視平面圖，本文中將該微圖案稱作偽隨機六邊形微圖案；

圖3是基于規則六邊形的第一示例性非線性微圖案設計的示意性俯視平面圖，并且本文中將該微圖案稱作局部彎曲的六邊形微圖案；

圖3a是圖3所示微圖案的若干個單元的分解圖；

圖4是基于規則六邊形的第二示例性非線性微圖案設計的示意性俯視平面圖，并且本文中將該微圖案稱作完全彎曲的六邊形微圖案；

圖4a是圖4所示的微圖案的若干個單元的分解圖；

圖5是第三示例性非線性微圖案，偽隨機彎曲設計的俯視平面圖；

圖6示出了展示測量方法的微圖案中的一個單元，該測量方法用于確定跡線取向；

圖7示出了對于圖1所示微圖案垂直于跡線片段的取向的柱狀圖；

圖8示出了對于偽隨機六邊形微圖案垂直于跡線片段的取向的柱狀圖，所述偽隨機六邊形微圖案的一部分如圖2所示；

圖9示出了對于局部彎曲的六邊形微圖案垂直于跡線片段的取向的柱狀圖，所述局部彎曲的六邊形微圖案的一部分如圖3所示；

圖10示出了對于完全彎曲的六邊形微圖案的跡線取向的角分布的柱狀圖，所述完全彎曲的六邊形微圖案的一部分如圖4所示；