[發明專利]旋轉檢測器用定子的繞線方法及其繞組構造體以及使用旋轉檢測器的電動機有效
| 申請號: | 201280003232.1 | 申請日: | 2012-01-10 |
| 公開(公告)號: | CN103155383A | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發明(設計)人: | 小川登史;吉川祐一;越前安司;小林正彥;西山雅章 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | H02K24/00 | 分類號: | H02K24/00;G01D5/20;H02K3/18;H02K3/28 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 旋轉 檢測 器用 定子 方法 及其 繞組 構造 以及 使用 檢測器 電動機 | ||
1.一種旋轉檢測器用定子的繞線方法,在該旋轉檢測器用定子中,在定子芯上纏繞有第一輸出繞組和第二輸出繞組,其中,上述定子芯整體呈輪狀,具備在周向上以固定的間隔配置有多個、并向內徑側或外徑側突出的磁極,上述第一輸出繞組和上述第二輸出繞組纏繞在由上述磁極形成的槽中,上述第二輸出繞組相對于上述第一輸出繞組相位相差90度,該繞線方法的特征在于,
上述第一輸出繞組的匝數N1(s)和上述第二輸出繞組的匝數N2(s)相對于上述槽呈正弦波狀分布,上述第一輸出繞組的匝數N1(s)以總匝數的分割比α分割為匝數N1a(s)和匝數N1b(s),針對所有上述槽在最下層連續纏繞上述匝數N1a(s)的下層第一輸出繞組,針對所有上述槽在上述下層第一輸出繞組之上重疊地連續纏繞上述第二輸出繞組,針對所有上述槽在上述第二輸出繞組之上連續纏繞上述匝數N1b(s)的上層第一輸出繞組,
關于上述分割比α,僅針對一處或多處的任意的槽改變比率。
2.根據權利要求1所述的旋轉檢測器用定子的繞線方法,其特征在于,
上述分割比α相對于所有上述槽以正弦波狀變化。
3.根據權利要求2所述的旋轉檢測器用定子的繞線方法,其特征在于,
上述匝數N1(s)最大的槽與上述分割比α最大的槽相同。
4.根據權利要求1所述的旋轉檢測器用定子的繞線方法,其特征在于,
以使上述匝數N1a(s)比上述匝數N1b(s)多的方式根據上述分割比α分割上述第一輸出繞組。
5.根據權利要求1所述的旋轉檢測器用定子的繞線方法,其特征在于,
以使上述匝數N1a(s)比上述匝數N1b(s)少的方式根據上述分割比α分割上述第一輸出繞組。
6.一種旋轉檢測器用定子的繞組構造體,在該旋轉檢測器用定子中,在定子芯上纏繞有第一輸出繞組和第二輸出繞組,其中,上述定子芯整體呈輪狀,具備在周向上以固定的間隔配置有多個、并向內徑側或外徑側突出的磁極,上述第一輸出繞組和上述第二輸出繞組纏繞在由上述磁極形成的槽中,上述第二輸出繞組相對于上述第一輸出繞組相位相差90度,該繞組構造體的特征在于,
上述第一輸出繞組的匝數N1(s)和上述第二輸出繞組的匝數N2(s)相對于上述槽呈正弦波狀分布,上述第一輸出繞組的匝數N1(s)以總匝數的分割比α分割為匝數N1a(s)和匝數N1b(s),
該繞組構造體具有:
針對所有上述槽在最下層連續纏繞的上述匝數N1a(s)的下層第一輸出繞組;
針對所有上述槽在上述下層第一輸出繞組之上重疊地連續纏繞的上述第二輸出繞組;以及
針對所有上述槽在上述第二輸出繞組之上連續纏繞的上述匝數N1b(s)的上層第一輸出繞組,
其中,關于上述分割比α,僅針對一處或多處的任意的槽改變比率。
7.一種電動機,具有使用根據權利要求1所述的繞線方法的旋轉檢測器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于松下電器產業株式會社,未經松下電器產業株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201280003232.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





