[實用新型]半導體產品檢測機有效
| 申請號： | 201220711825.0 | 申請日： | 2012-12-21 |
| 公開（公告）號： | CN203225236U | 公開（公告）日： | 2013-10-02 |
| 發明（設計）人： | 魏冬;張建華;李震宇;呂松霖;陳安利;李磊 | 申請（專利權）人： | 日月光半導體（昆山）有限公司 |
| 主分類號： | H01L21/66 | 分類號： | H01L21/66;G01N21/89;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 215341 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 產品 檢測 | ||
1.一種半導體產品檢測機，其特征在于：所述半導體產品檢測機包含：?
一工作站臺，設有一上料端、一工作區、一下料端及一輸送裝置，所述輸送裝置用于將一待測的半導體產品條由所述上料端傳送至所述工作區進行檢測作業，并將檢測完成的所述半導體產品條由所述工作區傳送至所述下料端，所述半導體產品條具有數個待測半導體產品；?
一計算機單元，儲存所述半導體產品條的一映像圖電子文檔及一影像比對檔；?
一識別相機，設于所述上料端與所述工作區之間，并訊號連接至所述計算機單元，用于對所述半導體產品條上的一識別碼進行辨識，并調出對應的映像圖電子文檔；及?
至少一檢測相機，設于所述工作區，并訊號連接至所述計算機單元，用于截取所述半導體產品的影像與所述影像比對檔進行一比對檢測作業，并將一檢測結果記錄于所述計算機單元對應的映像圖電子文檔。?
2.如權利要求1所述的半導體產品檢測機，其特征在于：所述至少一檢測相機具有一個三維移動機構。?
3.如權利要求1所述的半導體產品檢測機，其特征在于：所述至少一檢測相機具有一個沿Y軸移動的攝像單元。?
4.如權利要求1所述的半導體產品檢測機，其特征在于：所述輸送裝置為一輸送帶。?
5.如權利要求1所述的半導體產品檢測機，其特征在于：所述半導體產品檢測機另包含一人工輔助檢測機，設于所述工作區與所述下料端之間。?
6.如權利要求1所述的半導體產品檢測機，其特征在于：所述半導體產品條為承載有數個打線芯片的一導線架條或一封裝基板條。?
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日月光半導體（昆山）有限公司，未經日月光半導體（昆山）有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220711825.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：表面包覆切削工具
- 下一篇：一種血管栓塞劑及其注射裝置和用途
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件；其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置；專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理；集成電路器件或其特殊部件的制造
