[實(shí)用新型]恒溫晶體振蕩器拐點(diǎn)電阻測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220708414.6
• 申請日: 2012-12-19
• 公開（公告）號: CN202975165U
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳建松;王一民;張貽海;呂振興;崔立志
• 申請（專利權(quán)）人: 同方國芯電子股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 唐山永和專利商標(biāo)事務(wù)所 13103
• 代理人: 張?jiān)坪?/td>

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及恒溫晶體振蕩器，特別是一種恒溫晶體振蕩器拐點(diǎn)電阻測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

目前，在恒溫晶體振蕩器傳統(tǒng)生產(chǎn)制造工藝中，人們常常需要采用手動調(diào)整拐點(diǎn)電阻值的方法來尋找晶體的拐點(diǎn)溫度，以期達(dá)到最好的頻率穩(wěn)定度指標(biāo)，尤其是溫度穩(wěn)定度，因?yàn)樵诰w振蕩器恒溫溫度下的頻率穩(wěn)定度最高。而現(xiàn)有對恒溫晶體振蕩器的拐點(diǎn)調(diào)試和測試過程較為復(fù)雜，為達(dá)到標(biāo)稱的頻率穩(wěn)定度和精度，在恒溫晶體振蕩器生產(chǎn)中須針對元器件的離散性，進(jìn)行多項(xiàng)繁瑣而又嚴(yán)格的調(diào)試和測試，批量生產(chǎn)時(shí)較繁瑣。手工調(diào)測效率低，精度差，難以滿足要求。

實(shí)用新型內(nèi)容

為實(shí)現(xiàn)恒溫晶體振蕩器生產(chǎn)中調(diào)試的精確化、測試的自動化及成品檢驗(yàn)的計(jì)算機(jī)化，本實(shí)用新型提供一種利用計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)恒溫晶體振蕩器拐點(diǎn)電阻的自動批量化調(diào)試，以找到恒溫晶體振蕩器恒溫溫度的恒溫晶體振蕩器拐點(diǎn)電阻測試系統(tǒng)。

本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是：

一種恒溫晶體振蕩器拐點(diǎn)電阻測試系統(tǒng)，包括電源、測試控制板、頻率測量儀、計(jì)算機(jī)，所述測試控制板上允許有多個(gè)通過選通開關(guān)控制接通的測試單元，每個(gè)測試單元均由待測試的恒溫晶體振蕩器和與恒溫晶體振蕩器連接的橋路電阻組成，所述橋路電阻是兩個(gè)并聯(lián)的數(shù)字電位器；所述計(jì)算機(jī)與測試控制板上的選通開關(guān)并口連接，與橋路電阻中的數(shù)字電位器串口連接，計(jì)算機(jī)通過PIC-DIO-96卡自動采集數(shù)據(jù)；所述頻率測量儀與恒溫晶體振蕩器連接，并通過GPIB接口總線與所述計(jì)算機(jī)連接。

更進(jìn)一步：

所述數(shù)字電位器是MAX5477-79，其中一個(gè)阻值為10K，另一個(gè)阻值為100K，數(shù)字電位器MAX5477-79的阻值變化由計(jì)算機(jī)利用VB編程程序控制。

所述計(jì)算機(jī)VB編程程序的編寫采用單片機(jī)VB?+?Access數(shù)據(jù)庫模式，數(shù)據(jù)庫驅(qū)動引擎采用ODBC模式，通過編程程序控制數(shù)字電位器MAX5477-79的電阻值，并對不同電阻值下的產(chǎn)品頻率進(jìn)行記錄，存放在數(shù)據(jù)庫內(nèi)。

本系統(tǒng)中，計(jì)算機(jī)向測試控制板發(fā)送唯一的地址碼，測試控制板中的選通開關(guān)根據(jù)接收到的地址編碼選通待測恒溫產(chǎn)品位置。頻率測量儀讀取每一個(gè)晶體振蕩器的頻率，計(jì)算機(jī)根據(jù)頻率測量儀測得的數(shù)據(jù)擬合晶體振蕩器溫頻特性曲線，并計(jì)算得出振蕩器拐點(diǎn)時(shí)的電阻值。

另外，本系統(tǒng)中所述的測試控制板可以設(shè)置多個(gè)，系統(tǒng)通過多組數(shù)碼器和多路開關(guān)可以同時(shí)選通不同測試控制板上的晶體振蕩器，實(shí)現(xiàn)多個(gè)晶體振蕩器的頻率數(shù)據(jù)同時(shí)采集，并對采集到的頻率數(shù)據(jù)進(jìn)行分析比較，擬合計(jì)算最佳拐點(diǎn)電阻值。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)勢在于：拐點(diǎn)電阻的自動調(diào)整、頻率曲線的測量全部由計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，快速、高效、自動，實(shí)現(xiàn)了恒溫晶體振蕩器拐點(diǎn)電阻的自動批量化調(diào)試，可以縮短恒溫晶體振蕩器的開發(fā)周期，降低恒溫晶體振蕩器的制作成本，更有利于恒溫晶體振蕩器產(chǎn)品的大批量生產(chǎn)。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型系統(tǒng)框圖。

圖2是圖1中橋路電阻連接示意圖。

圖3是本實(shí)用新型系統(tǒng)工作流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明，目的僅在于更好地理解本實(shí)用新型內(nèi)容。因此，所舉實(shí)施例并不限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。

參見圖1，這種恒溫晶體振蕩器拐點(diǎn)電阻測試系統(tǒng)由電源、頻率測量儀、計(jì)算機(jī)和測試控制板組成，測試控制板設(shè)置有多個(gè)測試單元，每個(gè)測試單元均由待測試的恒溫晶體振蕩器和與恒溫晶體振蕩器連接的橋路電阻組成。

參見圖2，橋路電阻是兩個(gè)并聯(lián)的數(shù)字電位器MAX5477-79，其中一個(gè)阻值為10K，另一個(gè)阻值為100K，10K阻值電位器粗略調(diào)節(jié)拐點(diǎn)阻值大小，100K阻值電位器精細(xì)調(diào)節(jié)拐點(diǎn)阻值大小。

仍參見圖1、圖2，測試控制板上有與待測試的恒溫晶體振蕩器連接的選通開關(guān)，計(jì)算機(jī)與所述選通開關(guān)并口連接，與橋路電阻中的數(shù)字電位器串口連接，計(jì)算機(jī)通過PIC-DIO卡自動采集數(shù)據(jù)；頻率測量儀與恒溫晶體振蕩器連接，并通過GPIB接口總線與計(jì)算機(jī)的RS232串行接口連接；電源與測試控制板中的恒溫晶體振蕩器連接，為恒溫晶體振蕩器提供工作電壓。