[實用新型]恒溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統

有效

• 申請號: 201220708414.6
• 申請日: 2012-12-19
• 公開（公告）號: CN202975165U
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 陳建松;王一民;張貽海;呂振興;崔立志
• 申請（專利權）人: 同方國芯電子股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 唐山永和專利商標事務所 13103
• 代理人: 張云和

1.一種恒溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統，包括電源、測試控制板、頻率測量儀、計算機，其特征在于，所述測試控制板上允許有多個通過選通開關控制接通的測試單元，每個測試單元均由待測試的恒溫晶體振蕩器和與恒溫晶體振蕩器連接的橋路電阻組成，所述橋路電阻是兩個并聯的數字電位器；所述計算機與測試控制板上的選通開關并口連接，與橋路電阻中的數字電位器串口連接，計算機通過PIC-DIO-96卡自動采集數據；所述頻率測量儀與恒溫晶體振蕩器連接，并通過GPIB接口總線與所述計算機連接。

2.根據權利要求1所述的恒溫晶體振蕩器拐點電阻測試系統，其特征在于，所述數字電位器是MAX5477-79，其中一個阻值為10K，另一個阻值為100K。