[實用新型]電子元件的性能測試裝置有效
| 申請號： | 201220698504.1 | 申請日： | 2012-12-17 |
| 公開（公告）號： | CN203054110U | 公開（公告）日： | 2013-07-10 |
| 發明（設計）人： | 陳景明 | 申請（專利權）人： | 廈門華信安電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 廣州市越秀區海心聯合專利代理事務所(普通合伙) 44295 | 代理人： | 黃為 |
| 地址： | 361100 福建省廈門市翔安區廈門*** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電子元件 性能 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.電子元件的性能測試裝置，其特征在于：包括
一附有銅板的基板，其上設有多個均勻布置的滲油孔；
一放置板，與基板固接，其上設置有與所述的滲油孔數量位置一致的用于放置電子元件的容置孔；
一附有銅板的測試針板，與放置板通過螺桿調節聯接，其上設有與所述的滲油孔數量位置一致的安裝孔；
多個探針，在所述的安裝孔內焊接固定，所述的探針的針頭與容置孔內的電子元件相抵接。
2.根據權利要求1所述的電子元件的性能測試裝置，其特征在于：所述的探針表面設有鍍金層，所述的探針針頭為梅花型針頭。
3.根據權利要求1所述的電子元件的性能測試裝置，其特征在于：所述的銅板表面設有鍍銀層。
4.根據權利要求1至3任一項所述的電子元件的性能測試裝置，其特征在于：所述的容置孔上設有倒角。
5.根據權利要求4所述的電子元件的性能測試裝置，其特征在于：所述的基板、放置板及測試針板為耐高溫環氧玻纖板。
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