[實(shí)用新型]一種用于檢測(cè)陰極球面曲率半徑的檢測(cè)工裝有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220676372.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203069125U | 公開(公告)日: | 2013-07-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳華夏;鄧清東;宋田英;賀兆昌;張麗;陳愛民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽華東光電技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01B5/213 | 分類號(hào): | G01B5/213 |
| 代理公司: | 安徽匯樸律師事務(wù)所 34116 | 代理人: | 方榮肖 |
| 地址: | 241002 安徽省蕪*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 檢測(cè) 陰極 球面 曲率 半徑 工裝 | ||
1.一種用于檢測(cè)陰極球面曲率半徑的檢測(cè)工裝,其特征在于,其包括大SR規(guī)、小SR規(guī)以及連接固定該大SR規(guī)與該小SR規(guī)的支桿,該大SR規(guī)是按照待測(cè)陰極球面的曲率半徑設(shè)計(jì)值的上限值為半徑而做成的一個(gè)圓片,該小SR規(guī)是按照該待測(cè)陰極球面的曲率半徑設(shè)計(jì)值的下限值為半徑而做成的一個(gè)圓片。
2.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)陰極球面曲率半徑的檢測(cè)工裝,其特征在于,該支桿的兩端分別通過銷釘固定在該大SR規(guī)與該小SR規(guī)上。
3.如權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)陰極球面曲率半徑的檢測(cè)工裝,其特征在于,該支桿的兩端分別固定在該大SR規(guī)與該小SR規(guī)的圓心處。
4.如權(quán)利要求2或3所述的用于檢測(cè)陰極球面曲率半徑的檢測(cè)工裝,其特征在于,該大SR規(guī)與該小SR規(guī)均開設(shè)有供相應(yīng)的銷釘螺合固定的螺孔。
5.如權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)陰極球面曲率半徑的檢測(cè)工裝,其特征在于,該大SR規(guī)與該小SR規(guī)的邊沿厚度均小于各自內(nèi)部區(qū)域的厚度。
6.如權(quán)利要求5所述的用于檢測(cè)陰極球面曲率半徑的檢測(cè)工裝,其特征在于,該大SR規(guī)與該小SR規(guī)的邊沿厚度均處于0.1mm~0.2mm之間。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于安徽華東光電技術(shù)研究所,未經(jīng)安徽華東光電技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220676372.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





