[實用新型]一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架

有效

• 申請號: 201220648551.5
• 申請日: 2012-11-30
• 公開（公告）號: CN202968684U
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 李凱;段冰;彭開燁
• 申請（專利權）人: 四川虹歐顯示器件有限公司
• 主分類號: C23C14/54
• 分類號: C23C14/54;C23C14/30;G01B21/08
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 詹永斌

1.?一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的支架包括支架加強板（1）、樣品托板（2）和樣品放置口（3），所述的支架加強板（1）與樣品托板（2）之間緊固連接，所述的樣品放置口（3）設置在樣品托板（2）上。

2.?根據權利要求1所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的支架加強板（1）的數量是兩條，并且是以樣品托板（2）長邊對稱軸為中心對稱分布在樣品托板（2）的兩側邊緣。

3.?根據權利要求1或者2所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：單條所述的支架加強板（1）呈細長矩形狀，其厚度為所述的樣品托板（2）厚度的兩倍至四倍之間。

4.?根據權利要求1或者2所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的支架加強板（1）的長邊方向設置有若干個通孔，所有的通孔均沿著支架加強板（1）長邊對稱軸呈“一”字型均勻分布。

5.?根據權利要求1或者2所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的樣品托板（2）是一個扁平矩形板，在所述的樣品托板（2）上設置有若干個樣品放置口（3）和若干個螺紋孔。

6.?根據權利要求5所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的若干個樣品放置口（3）均沿著樣品托板（2）長邊對稱軸呈“一”字型均勻分布。

7.?根據權利要求5所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的樣品托板（2）上的若干個螺紋孔是以樣品托板（2）長邊對稱軸為中心對稱均勻分布在樣品托板（2）的兩側邊緣，并且與所述的支架加強板（1）上的若干個通孔順序一一對應。

8.?根據權利要求1所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的樣品放置口（3）呈“十”字型，中部是矩形通孔，上下端是矩形沉頭槽。

9.?根據權利要求1所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的支架加強板（1）與樣品托板（2）采用緊固螺釘（4）緊固連接。

10.?根據權利要求1或者9所述的一種用于真空鍍膜膜厚測試的支架，其特征在于：所述的支架加強板（1）、樣品托板（2）和緊固螺釘（4）均采用不銹鋼制成。