[實用新型]半導體封裝點膠治具有效
| 申請號: | 201220643157.2 | 申請日: | 2012-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN202909890U | 公開(公告)日: | 2013-05-01 |
| 發明(設計)人: | 王駿 | 申請(專利權)人: | 無錫萬銀半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | B05C5/00 | 分類號: | B05C5/00;H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京中恒高博知識產權代理有限公司 11249 | 代理人: | 劉洪京 |
| 地址: | 214000 江蘇省無錫市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝點 膠治具 | ||
技術領域
本實用新型涉及半導體封裝技術領域,尤其是一種半導體封裝點膠治具。
背景技術
在現有的半導體封裝技術中,采用的點膠治具是單溢膠口(PIN)的點膠頭用來畫膠。由于點膠頭中溢膠口很少,導致框架(PMF)內壁膠體不多,并且密封性也不是十分太好,容易出現蓋子(CAP)脫落,氣體侵入芯片導致不良發生。
實用新型內容
本實用新型針對不足,提出一種半導體封裝點膠治具,點膠頭的溢膠口較多,使得PMF內壁膠體多,同時密封性好。
為了實現上述實用新型目的,本實用新型提供以下技術方案:一種半導體封裝點膠治具,包括依次連接的膠管連接口、膠體儲存腔和溢膠口,該溢膠口設有16個。
進一步地,該16個溢膠口均勻設置在膠體儲存腔上。
與現有技術相比,本實用新型具有以下優點:采用16個溢膠口,使得點膠陣列更密集,很好的避免CAP脫落和氣體侵入芯片不良現象發生,而且封裝過程性能更穩定,產品制作過程成品率提高很多;具有結構簡單,合理,性能穩定等優點。
附圖說明
圖1為本實用新型的結構示意圖;
圖2為圖1的右視圖。
具體實施方式
下面結合附圖對本實用新型進行詳細描述,本部分的描述僅是示范性和解釋性,不應對本實用新型的保護范圍有任何的限制作用。
如圖1和圖2所示的一種半導體封裝點膠治具,包括依次連接的膠管連接口1、膠體儲存腔2和溢膠口3,該溢膠口3設有16個。該16個溢膠口3均勻設置在膠體儲存腔2上。
本點膠頭產品的溢膠口3在設計時,考慮了封裝過程發生CAP脫落不良和氣體侵入芯片不良現象設計點膠治具PIN針改善,很好的避免CAP脫落和氣體侵入芯片不良現象發生。
本實用新型的目的給出了對本實用新型優選實施例的描述,可以使本領域的技術人員更全面地理解本實用新型,但不以任何方式限制本實用新型,而且任何可以對本實用新型進行修改或者等同替換,均應涵蓋在本實用新型專利的保護范圍內。
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