[實用新型]測試電致發光片的探針有效
| 申請號： | 201220546459.8 | 申請日： | 2012-10-23 |
| 公開（公告）號： | CN202837353U | 公開（公告）日： | 2013-03-27 |
| 發明（設計）人： | 宋明亮;張佳;張宏彬;蘇哲 | 申請（專利權）人： | 蠡縣英利新能源有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 魏曉波 |
| 地址： | 071400 河北省*** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 電致發光 探針 | ||
【權利要求書】：
1.一種測試電致發光片的探針，包括支撐骨架和與所述支撐骨架固定連接的測試電極，其特征在于，所述測試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶，以及與所述基帶鉸接的導流片，所述基帶與所述支撐骨架鉸接。
2.根據權利要求1所述的測試電致發光片的探針，其特征在于，所述測試電極包括兩條所述基帶，兩所述基帶的一端均與所述支撐骨架鉸接，另一端均與所述導流片鉸接。
3.根據權利要求1所述的測試電致發光片的探針，其特征在于，兩所述基帶與所述支撐骨架的兩個鉸接點之間的距離，等于兩所述基帶與所述導流片的兩個鉸接點之間的距離。
4.根據權利要求1至3任一項所述的測試電致發光片的探針，其特征在于，所述基帶具體為彈性層壓布。
5.根據權利要求1至3任一項所述的測試電致發光片的探針，其特征在于，所述基帶與所述支撐骨架通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。
6.根據權利要求1至3任一項所述的測試電致發光片的探針，其特征在于，所述導流片與所述基帶通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。
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