[實(shí)用新型]測(cè)試電致發(fā)光片的探針

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220546459.8
• 申請(qǐng)日: 2012-10-23
• 公開（公告）號(hào): CN202837353U
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宋明亮;張佳;張宏彬;蘇哲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蠡縣英利新能源有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 魏曉波

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電致發(fā)光片測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種測(cè)試電致發(fā)光片的探針。

背景技術(shù)

電致發(fā)光片（EL）是將發(fā)光粉置于兩個(gè)平板電極之間而構(gòu)成的。其為夾層式結(jié)構(gòu)，上下各有一個(gè)電極，上電極為透明導(dǎo)電膜（ITO膜），光從此面射出，下電極為背電極，其材料主要為銀或碳，發(fā)光材料主要是硫化鋅（ZnS）,當(dāng)交流電壓加在兩個(gè)電極上時(shí)，電場(chǎng)使得（ZnS）粒子產(chǎn)生激發(fā)式躍遷，從而在每一個(gè)充放循環(huán)中發(fā)光，當(dāng)它含有不同的激活劑時(shí)，可發(fā)出不同顏色的光。EL的亮度隨電極間的電壓、頻率的改變而變化，一般情況下隨電壓及頻率的增加亮度也相應(yīng)增加。

現(xiàn)有的EL測(cè)試經(jīng)常在檢測(cè)組件時(shí)經(jīng)常出現(xiàn)“黑圖”現(xiàn)象，探針經(jīng)常燒毀需要進(jìn)行更換，一般每天至少要更換10次，耽誤時(shí)間，增加測(cè)試成本，經(jīng)觀察發(fā)現(xiàn)探針工作時(shí)電流過大，探針里面的彈簧長時(shí)間的動(dòng)作導(dǎo)致彈簧燒壞，不能正常使用。

同時(shí)，更換電致發(fā)光片的板型后，還需要對(duì)測(cè)試電致發(fā)光片的探針進(jìn)行調(diào)整，費(fèi)時(shí)費(fèi)力。

因此，如何提高測(cè)試電致發(fā)光片的探針的可靠性，延長此探針的使用壽命，降低電致發(fā)光片的測(cè)試成本，是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是提供一種測(cè)試電致發(fā)光片的探針，該探針可靠性高，使用壽命長，可以有效降低電致發(fā)光片的測(cè)試成本。

為實(shí)現(xiàn)上述實(shí)用新型目的，本實(shí)用新型提供一種測(cè)試電致發(fā)光片的探針，包括支撐骨架和與所述支撐骨架固定連接的測(cè)試電極，所述測(cè)試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶，以及與所述基帶鉸接的導(dǎo)流片，所述基帶與所述支撐骨架鉸接。

優(yōu)選地，所述測(cè)試電極包括兩條所述基帶，兩所述基帶的一端均與所述支撐骨架鉸接，另一端均與所述導(dǎo)流片鉸接。

優(yōu)選地，兩所述基帶與所述支撐骨架的兩個(gè)鉸接點(diǎn)之間的距離，等于兩所述基帶與所述導(dǎo)流片的兩個(gè)鉸接點(diǎn)之間的距離。

優(yōu)選地，所述基帶具體為彈性層壓布。

優(yōu)選地，所述基帶與所述支撐骨架通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。

優(yōu)選地，所述導(dǎo)流片與所述基帶通過螺柱連接，所述基帶具有容納所述螺柱的通孔，該通孔的直徑大于所述螺柱的外徑。

本實(shí)用新型所提供的探針，用于檢測(cè)電致發(fā)光片，該探針包括支撐骨架和與所述支撐骨架固定連接的測(cè)試電極，與現(xiàn)有技術(shù)不同的是，所述測(cè)試電極包括耐高溫柔性絕緣基帶，以及與所述基帶鉸接的導(dǎo)流片，所述基帶與所述支撐骨架鉸接。測(cè)試電致發(fā)光片時(shí)，將兩個(gè)測(cè)試電極分別與電致發(fā)光片正、負(fù)電極相連，導(dǎo)流片將組件的正、負(fù)極導(dǎo)通，實(shí)現(xiàn)檢測(cè)功能。此探針中，實(shí)現(xiàn)導(dǎo)流片載體的是具有耐高溫性能的絕緣基帶，在檢測(cè)過程中不易損壞，可以延長探針的使用壽命。同時(shí)，由于基帶是柔性的，在檢測(cè)不同型號(hào)的電致發(fā)光片時(shí)，基帶可以變形，滿足不同型號(hào)的檢測(cè)需要。這樣，既不會(huì)像現(xiàn)有的探針那樣在支撐骨架上設(shè)置多個(gè)正、負(fù)極，簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu)，也不需要在檢測(cè)過程中將不需要使用的正、負(fù)壓短，更不需要在正、負(fù)極中設(shè)置彈簧，也就不會(huì)出現(xiàn)彈簧損壞的問題，從而避免更換探針，節(jié)省檢測(cè)時(shí)間，提高檢測(cè)效率，降低檢測(cè)成本。

在一種優(yōu)選的實(shí)施方式中，所述測(cè)試電極包括兩條所述基帶，兩所述基帶的一端均與所述支撐骨架鉸接，另一端均與所述導(dǎo)流片鉸接。為了增大導(dǎo)流片與電致發(fā)光片的接觸面積，確保正、負(fù)極連接，提高檢測(cè)準(zhǔn)確率和可靠性，導(dǎo)流片需要有一定的長度，在每一個(gè)測(cè)試電極中設(shè)置兩條基帶，且兩條基帶均一端與支撐骨架鉸接，另一端與導(dǎo)流片鉸接，兩鉸接點(diǎn)之間均具有預(yù)定的距離，以提高導(dǎo)流片的長度，從而提高導(dǎo)流效率，提高檢測(cè)準(zhǔn)確率和可靠性。

在另一種優(yōu)選的實(shí)施方式中，兩所述基帶與所述支撐骨架的兩個(gè)鉸接點(diǎn)之間的距離，等于兩所述基帶與所述導(dǎo)流片的兩個(gè)鉸接點(diǎn)之間的距離。即支撐骨架上的兩個(gè)鉸接點(diǎn)和導(dǎo)流片上的兩個(gè)鉸接點(diǎn)，一起形成平行四邊形，在檢測(cè)過程中，支撐骨架上的兩個(gè)鉸接點(diǎn)保持不動(dòng)，由于基帶是柔性的，另兩個(gè)鉸接點(diǎn)可以移動(dòng)，從而擴(kuò)大探針的使用范圍，進(jìn)一步提高探針的適用性。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型所提供測(cè)試電致發(fā)光片的探針一種具體實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

本實(shí)用新型的核心是提供一種測(cè)試電致發(fā)光片的探針，該探針可靠性高，使用壽命長，可以有效降低電致發(fā)光片的測(cè)試成本。

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本實(shí)用新型方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。