[實用新型]一種過零檢測電路

有效

• 申請號: 201220494439.0
• 申請日: 2012-09-25
• 公開（公告）號: CN202837385U
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 秦吉芳;洪浩;王偉峰
• 申請（專利權）人: 上海微頻萊機電科技有限公司
• 主分類號: G01R19/175
• 分類號: G01R19/175;G01R31/28
• 代理公司: 上海海頌知識產權代理事務所(普通合伙) 31258
• 代理人: 何葆芳

技術領域

本實用新型涉及一種過零檢測電路，具體說，是涉及一種既能夠正確檢測過零點、又能夠自行診斷是否有異常的過零檢測電路。

背景技術

在一些交流調壓或交流控制系統中，需要知道交流電的過零點，以便以此為基準，對交流電的通、斷進行控制，以便得到想要的輸出，過零點的可靠性對控制的品質有著直接的影響，如果過零檢測回路出現異常，就會直接影響到輸出，情況嚴重的會對設備或系統造成安全隱患，但目前沒有一種既能夠正確檢測到過零點，又能夠自行診斷是否有異常的過零檢測電路的相關技術報道，現有技術不能對過零檢測電路的安全進行有效防護，引起后續系統的不穩定性。

實用新型內容

針對現有技術存在的上述問題，本實用新型的目的是提供一種既能夠正確檢測過零點、又能夠自行診斷是否有異常的過零檢測電路。

為實現上述實用新型目的，本實用新型采取的技術方案如下：

一種過零檢測電路，包括：電阻R7、電阻R8、電阻R9、光耦PC1和內設切斷電路單元的MCU（MCU是微程序控制器Microprogrammed?Control?Unit的英文縮寫），所述電阻R7和電阻R8并聯且分別通過光耦PC1的1號和2號接入口接入光耦PC1中，電阻R9通過光耦PC1的4號接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通過光耦PC1的4號接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3號端口接地。

作為一種優選方案，光耦PC1輸出高、低電平的頻率是50HZ，占空比為50%。

作為進一步優選方案，高電平輸出時間為10ms，低電平輸出時間也為10ms。

本實用新型的工作過程如下：

當過零檢測電路開始運行后，MCU將實時采集光耦PC1的輸出狀態，并計算高低電平輸出時間和低電平輸出時間是否均為10ms；若該狀態維持10ms后發生狀態轉換，則對轉換后的狀態進行計時，反之則說明發生故障；MCU對剛發生狀態轉換后的電路繼續進行狀態是否維持10ms后發生狀態轉換的判斷，如果是，則進行正常處理，反之則說明發生故障；對故障進行故障處理后結束。

與現有技術相比，本實用新型提供的過零檢測電路，不僅能夠正確檢測過零點，還能夠自行診斷是否有異常，可避免因過零檢測電路的異常導致整個系統不穩定或安全隱患，具有極強的實用價值，可廣泛推廣應用。

附圖說明

圖1是本實用新型提供的一種過零檢測電路的結構示意圖；

圖2是本實用新型提供的過零檢測電路的工作流程示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖及其實施例對本實用新型進一步詳細地說明：

如圖1所示：本實用新型提供的一種過零檢測電路，包括：電阻R7、電阻R8、電阻R9、光耦PC1和內設切斷電路單元的MCU，所述電阻R7和電阻R8并聯且分別通過光耦PC1的1號和2號接入口接入光耦PC1中，電阻R9通過光耦PC1的4號接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通過光耦PC1的4號接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3號端口接地。

作為一種優選方案，光耦PC1輸出高、低電平的頻率是50HZ，占空比為50%；即：高電平輸出時間為10ms，低電平輸出時間也為10ms。

如圖2所示，本實用新型的工作過程如下：

當過零檢測電路開始運行后，MCU將實時采集光耦PC1的輸出狀態，并計算高低電平輸出時間和低電平輸出時間是否均為10ms；若該狀態維持10ms后發生狀態轉換，則對轉換后的狀態進行計時，反之則說明發生故障；MCU對剛發生狀態轉換后的電路繼續進行狀態是否維持10ms后發生狀態轉換的判斷，如果是，則進行正常處理，反之則說明發生故障；對故障進行故障處理后結束。

綜上所述可見：本實用新型提供的過零檢測電路，不僅能夠正確檢測輸出電壓，還能夠自行診斷是否有異常，可避免因過零檢測電路的異常導致整個系統不穩定或安全隱患，具有極強的實用價值，可廣泛推廣應用。

最后有必要在此說明的是：上述內容只用于對本實用新型的技術方案作進一步詳細說明，不能理解為對本實用新型保護范圍的限制，本領域的技術人員根據本實用新型的上述內容作出的一些非本質的改進和調整均屬于本實用新型的保護范圍。