[實用新型]一種過零檢測電路有效

申請號：	201220494439.0	申請日：	2012-09-25
公開（公告）號：	CN202837385U	公開（公告）日：	2013-03-27
發明（設計）人：	秦吉芳;洪浩;王偉峰	申請（專利權）人：	上海微頻萊機電科技有限公司
主分類號：	G01R19/175	分類號：	G01R19/175;G01R31/28
代理公司：	上海海頌知識產權代理事務所(普通合伙) 31258	代理人：	何葆芳
地址：	201613 上海***	國省代碼：	上海;31
權利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關鍵詞：	一種檢測電路
鉆瓜網技術展會專利詞庫專利權人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【權利要求書】：

1.一種過零檢測電路，其特征在于，包括：電阻R7、電阻R8、電阻R9、光耦PC1和內設切斷電路單元的MCU，所述電阻R7和電阻R8并聯且分別通過光耦PC1的1號和2號接入口接入光耦PC1中，電阻R9通過光耦PC1的4號接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通過光耦PC1的4號接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3號端口接地。

2.根據權利要求1所述的過零檢測電路，其特征在于：光耦PC1輸出高、低電平的頻率是50HZ，占空比為50%。

下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。

免登錄下載普通用戶下載升級VIP會員，免費下載

該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海微頻萊機電科技有限公司，未經上海微頻萊機電科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】

本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220494439.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。