[實用新型]單元測試設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220443700.4
• 申請日: 2012-08-31
• 公開（公告）號: CN202735377U
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳娟;柳在健;姚繼開;馬曉峰;李鑫
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種單元測試設(shè)備，包括：

探針單元，所述探針單元包括與被測面板上的接觸塊對應(yīng)的探針；

其特征在于，還包括：

照明單元，對探針單元上的探針和被測面板上的接觸塊進行照明；

圖像攝取單元，對探針單元上的探針和被測面板上的接觸塊的對位情況進行攝取并將攝取的信息輸送到顯示單元；

顯示單元，對所述攝取的探針和接觸塊的對位情況進行顯示。

2.如權(quán)利要求1所述的單元測試設(shè)備，其特征在于，所述探針單元和被測面板上分別設(shè)有相互對應(yīng)的對位標(biāo)記。

3.如權(quán)利要求2所述的單元測試設(shè)備，其特征在于，所述探針單元上的對位標(biāo)記設(shè)于所述探針周邊；所述被測面板上的對位標(biāo)記設(shè)于所述接觸塊周邊。

4.如權(quán)利要求1所述的單元測試設(shè)備，其特征在于，所述圖像攝取單元為CCD圖像采集裝置。