[實(shí)用新型]單元測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220443700.4
• 申請(qǐng)日: 2012-08-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN202735377U
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳娟;柳在健;姚繼開(kāi);馬曉峰;李鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067
• 代理公司: 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種單元測(cè)試設(shè)備。

背景技術(shù)

目前液晶顯示裝置量產(chǎn)產(chǎn)線的單元測(cè)試（cell?test）中，需要使用單元測(cè)試設(shè)備上的探針與被測(cè)面板（Panel）上的接觸塊（Pad）對(duì)應(yīng)接觸，以對(duì)接觸塊施加測(cè)試信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。但是現(xiàn)有技術(shù)中，如圖1所示為現(xiàn)有單元測(cè)試設(shè)備的簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu)示意圖，被測(cè)面板103（Q?panel）固定于測(cè)試設(shè)備上，由于測(cè)試設(shè)備上的探針101和被測(cè)面板上接觸塊102都比較小，探針101很難與接觸塊102對(duì)位精準(zhǔn)，對(duì)位精度調(diào)試比較困難。當(dāng)探針101與接觸塊102的對(duì)位精度不夠精準(zhǔn)時(shí)，會(huì)導(dǎo)致單元測(cè)試設(shè)備對(duì)被測(cè)面板103的測(cè)試信號(hào)施加不正常，無(wú)法進(jìn)行正常測(cè)試。

實(shí)用新型內(nèi)容

（一）要解決的技術(shù)問(wèn)題

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是：提供一種單元測(cè)試設(shè)備，使得測(cè)試過(guò)程中探針與接觸塊的對(duì)位精度調(diào)節(jié)更容易，測(cè)試精度得到更容易更好的控制。

（二）技術(shù)方案

為解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了一種單元測(cè)試設(shè)備，包括：

探針單元，所述探針單元包括與被測(cè)面板上的接觸塊對(duì)應(yīng)的探針；

照明單元，對(duì)探針單元上的探針和被測(cè)面板上的接觸塊進(jìn)行照明；

圖像攝取單元，對(duì)探針單元上的探針和被測(cè)面板上的接觸塊的對(duì)位情況進(jìn)行攝取并將攝取的信息輸送到顯示單元；

顯示單元，對(duì)所述攝取的探針和接觸塊的對(duì)位情況進(jìn)行顯示。

優(yōu)選地，所述探針單元和被測(cè)面板上分別設(shè)有相互對(duì)應(yīng)的對(duì)位標(biāo)記。

優(yōu)選地，所述探針單元上的對(duì)位標(biāo)記設(shè)于所述探針周邊；所述被測(cè)面板上的對(duì)位標(biāo)記設(shè)于所述接觸塊周邊。

優(yōu)選地，所述圖像攝取單元為CCD圖像采集裝置。

（三）有益效果

本實(shí)用新型在現(xiàn)有設(shè)備的基礎(chǔ)上，加入照明單元及圖像攝取單元，通過(guò)圖像攝取單元將探針與接觸塊的對(duì)位情況攝取到顯示裝置上，改善了精度調(diào)節(jié)的方法，使測(cè)試精度調(diào)節(jié)更容易，測(cè)試精度得到更容易更好的控制。

附圖說(shuō)明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)單元測(cè)試設(shè)備的簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例單元測(cè)試設(shè)備的簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu)示意圖；

其中：101：探針；102：接觸塊；103：被測(cè)面板；201:圖像攝取單元；202:照明單元；203：探針；204：接觸塊；205：被測(cè)面板。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明如下。

實(shí)施例一：

如圖2所示，本實(shí)施例記載了一種單元測(cè)試設(shè)備，包括：

探針單元，所述探針單元包括與被測(cè)面板205上的接觸塊204對(duì)應(yīng)的探針203；

照明單元202，對(duì)探針單元上的探針203和被測(cè)面板205上的接觸塊204進(jìn)行照明；

圖像攝取單元201，對(duì)探針單元上的探針203和被測(cè)面板205上的接觸塊204的對(duì)位情況進(jìn)行攝取并將攝取的信息輸送到顯示單元；

顯示單元，對(duì)所述攝取的探針203和接觸塊204的對(duì)位情況進(jìn)行顯示。

在本實(shí)施例中，所述圖像攝取單元201為CCD圖像采集裝置。當(dāng)然在本實(shí)用新型的其它實(shí)施例中，所述圖像攝取單元201還可以為其它合適的圖像采集裝置。

在本實(shí)施例中，所述顯示單元為電腦的顯示器。在本實(shí)用新型的其它實(shí)施例中，所述顯示單元還可以為其它合適的顯示裝置。

使用時(shí)，操作者通過(guò)在顯示單元上監(jiān)視探針單元上的探針203與被測(cè)面板205上的接觸塊204的對(duì)位情況來(lái)對(duì)探針203和接觸塊204的對(duì)位進(jìn)行精確控制，避免對(duì)位不精確而導(dǎo)致測(cè)試信號(hào)無(wú)法正常施加的問(wèn)題發(fā)生，使得單元測(cè)試更加準(zhǔn)確，測(cè)試精度更容易控制。

實(shí)施例二：

本實(shí)施例包括實(shí)施例一的內(nèi)容，但是在本實(shí)施例中，所述探針單元和被測(cè)面板上分別設(shè)有相互對(duì)應(yīng)的對(duì)位標(biāo)記。

在本實(shí)施例中，所述探針單元上的對(duì)位標(biāo)記設(shè)于所述探針周邊；所述被測(cè)面板上的對(duì)位標(biāo)記設(shè)于所述接觸塊周邊。

本實(shí)施例通過(guò)探針單元和被測(cè)面板上分別設(shè)置的相互對(duì)應(yīng)的對(duì)位標(biāo)記可以進(jìn)一步幫助單元測(cè)試過(guò)程中探針與接觸塊的精確對(duì)位，使得測(cè)試精度提高。

以上實(shí)施方式僅用于說(shuō)明本實(shí)用新型，而并非對(duì)本實(shí)用新型的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本實(shí)用新型的范疇，本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。