[實(shí)用新型]基于SOPC的頻率特性測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220421411.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-08-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN202710660U | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉樹江;張凌志 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 黑龍江工程學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01R23/02 | 分類號(hào): | G01R23/02 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109 | 代理人: | 張果瑞 |
| 地址: | 150050 黑龍江*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 sopc 頻率特性 測(cè)試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種頻率特性測(cè)試裝置,特別涉及一種基于SOPC的頻率特性測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)和調(diào)試過程中,很多時(shí)候無(wú)法也無(wú)需知道系統(tǒng)內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和參數(shù)等信息,而只關(guān)心系統(tǒng)的傳輸特性,頻率特性H(jω)就是對(duì)傳輸特性一種很好的描述,因此H(jω)有著重要的理論研究?jī)r(jià)值與實(shí)用價(jià)值,在工程實(shí)踐和科學(xué)實(shí)驗(yàn)中都有著廣泛的應(yīng)用。通過測(cè)試系統(tǒng)的輸入與輸出經(jīng)計(jì)算可以得到其H(jω),頻率特性測(cè)試儀就是用來(lái)測(cè)試系統(tǒng)頻率特性的一種儀器。因此,利用現(xiàn)有的資源設(shè)計(jì)一種即合理又實(shí)用的頻率特性測(cè)試儀,來(lái)測(cè)試并顯示系統(tǒng)的頻率特性,以便對(duì)被測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行更進(jìn)一步的了解和研究。
常用的頻率特性測(cè)試儀,又成為掃頻儀,大致可分為兩代,第一代掃頻儀的典型產(chǎn)品如BT3等用50Hz鋸齒波調(diào)制高頻信號(hào),在陰極射線管上顯示結(jié)果;第二代掃頻儀是以ICL8038等壓控振蕩器為核心,運(yùn)用類似鎖相頻率合成技術(shù),并配合D/A,A/D轉(zhuǎn)換器,在微機(jī)或單片機(jī)控制下完成掃頻。
但是上述頻率特性測(cè)試儀的測(cè)試精度較低,同時(shí)體積較大,不易攜帶。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是為了解決目前的頻率特性測(cè)試儀測(cè)試精度較低,同時(shí)體積較大的問題,本實(shí)用新型提供一種基于SOPC的頻率特性測(cè)試裝置。
基于SOPC的頻率特性測(cè)試裝置,它包括DAC轉(zhuǎn)換器、信號(hào)調(diào)理電路、幅度檢測(cè)電路、輸入電路和顯示電路,它還包括Nios處理器內(nèi)核和DDS掃頻控制內(nèi)核;
Nios處理器內(nèi)核的掃頻控制信號(hào)輸出端與DDS掃頻控制內(nèi)核的掃頻控制信號(hào)輸入端連接,DDS掃頻控制內(nèi)核的掃頻信號(hào)輸出端與DAC轉(zhuǎn)換器的數(shù)字信號(hào)輸入端連接,DAC轉(zhuǎn)換器的模擬信號(hào)輸出端與信號(hào)調(diào)理電路的模擬信號(hào)輸入端連接,Nios處理器內(nèi)核的調(diào)理控制信號(hào)輸出端與信號(hào)調(diào)理電路的控制信號(hào)輸入端連接,信號(hào)調(diào)理電路的的測(cè)試信號(hào)輸出端用于連接測(cè)試對(duì)象的測(cè)試信號(hào)輸入端,幅度檢測(cè)電路的測(cè)試信號(hào)輸入端用于連接測(cè)試對(duì)象的測(cè)試信號(hào)輸出端,幅度檢測(cè)電路的模擬信號(hào)輸出端同時(shí)與Nios處理器內(nèi)核的模擬信號(hào)輸入端和DDS掃頻控制內(nèi)核的模擬信號(hào)輸入端連接,輸入電路的控制信號(hào)輸出端與Nios處理器內(nèi)核的控制信號(hào)輸入端連接,Nios處理器內(nèi)核的顯示信號(hào)輸出端與顯示電路的顯示信號(hào)輸入端連接。
本實(shí)用新型的有益效果為:
本實(shí)用新型所述的頻率特性測(cè)試儀就是以直接數(shù)字合成(DDS)技術(shù)為核心的,以Altera公司的SOPC(System-on-a-Programmable-Chip,可編程片上系統(tǒng))內(nèi)核Nios作為內(nèi)核。本實(shí)用新型的頻率穩(wěn)定度較高,可以在1Hz~25MHz內(nèi)連續(xù)掃頻,因?yàn)镈DS(Direct?Digital?Synthesizer,直接數(shù)字式頻率合成器)是開環(huán)控制,頻率調(diào)節(jié)速度較高,并且線路簡(jiǎn)單,成本低廉,體積小便于攜帶。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式一所述的基于SOPC的頻率特性測(cè)試裝置的電氣原理示意圖。
圖2為本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式二、具體實(shí)施方式三和具體實(shí)施方式四所述的基于SOPC的頻率特性測(cè)試裝置的電氣原理示意圖。
圖3為本實(shí)用新型以21.8M濾波器為測(cè)試對(duì)象的頻率特性曲線界面示意圖,橫坐標(biāo)為表示濾波器的帶寬,縱坐標(biāo)為21.8M濾波器輸出的測(cè)試信號(hào)的衰減倍數(shù)。
具體實(shí)施方式
具體實(shí)施方式一:結(jié)合圖1說(shuō)明本實(shí)施方式,本實(shí)施方式所述的基于SOPC的頻率特性測(cè)試裝置,它包括DAC轉(zhuǎn)換器、信號(hào)調(diào)理電路、幅度檢測(cè)電路、輸入電路和顯示電路,它還包括Nios處理器內(nèi)核6和DDS掃頻控制內(nèi)核7;
Nios處理器內(nèi)核的掃頻控制信號(hào)輸出端與DDS掃頻控制內(nèi)核7的掃頻控制信號(hào)輸入端連接,DDS掃頻控制內(nèi)核7的掃頻信號(hào)輸出端與DAC轉(zhuǎn)換器1的數(shù)字信號(hào)輸入端連接,DAC轉(zhuǎn)換器1的模擬信號(hào)輸出端與信號(hào)調(diào)理電路2的模擬信號(hào)輸入端連接,Nios處理器內(nèi)核的調(diào)理控制信號(hào)輸出端與信號(hào)調(diào)理電路2的控制信號(hào)輸入端連接,信號(hào)調(diào)理電路2的的測(cè)試信號(hào)輸出端用于連接測(cè)試對(duì)象的測(cè)試信號(hào)輸入端,幅度檢測(cè)電路3的測(cè)試信號(hào)輸入端用于連接測(cè)試對(duì)象的測(cè)試信號(hào)輸出端,幅度檢測(cè)電路3的模擬信號(hào)輸出端同時(shí)與Nios處理器內(nèi)核的模擬信號(hào)輸入端和DDS掃頻控制內(nèi)核7的模擬信號(hào)輸入端連接,輸入電路4的控制信號(hào)輸出端與Nios處理器內(nèi)核的控制信號(hào)輸入端連接,Nios處理器內(nèi)核的顯示信號(hào)輸出端與顯示電路5的顯示信號(hào)輸入端連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于黑龍江工程學(xué)院,未經(jīng)黑龍江工程學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220421411.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 基于SOPC的聲紋身份驗(yàn)證系統(tǒng)及其方法
- 基于SOPC的聲紋身份驗(yàn)證系統(tǒng)
- 基于SOPC的電子點(diǎn)菜終端
- 基于SOPC串聯(lián)型動(dòng)態(tài)電壓調(diào)節(jié)器
- 基于SOPC電能質(zhì)量監(jiān)控系統(tǒng)
- 一種基于SOPC技術(shù)的多生物識(shí)別網(wǎng)絡(luò)化門禁裝置
- 一種SoPC芯片自主重構(gòu)軟配置方法
- 一種基于SOPC的液晶模組測(cè)試系統(tǒng)
- 一種計(jì)算機(jī)信息安全防護(hù)裝置
- 基于SoPC的視頻圖像快速去霧系統(tǒng)
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





