[實用新型]一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220414279.4 | 申請日: | 2012-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN202794037U | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 宋雅東;孫金龍;陳國偉;王凌昊 | 申請(專利權(quán))人: | 北京普析通用儀器有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京眾合誠成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246 | 代理人: | 龔燮英 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 原子 熒光 光度計 扣除 光源 波動 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置,屬于原子熒光光度計技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
原子熒光光譜法是一種基于測量分析物氣態(tài)自由原子吸收輻射被激發(fā)后去激發(fā)所發(fā)射的特征譜線強(qiáng)度進(jìn)行定量分析的痕量元素分析方法。原子熒光光譜分析法歷經(jīng)40余年的不斷發(fā)展和完善,現(xiàn)已成為分析實驗室中無機(jī)元素最為有效的常用分析技術(shù)之一,適用于As、Sb、Bi、Se、Te、Ge、Sn、Pb、Zn、Cd、Hg等元素的痕量檢測,被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、環(huán)境科學(xué)、生命科學(xué)、食品衛(wèi)生、材料科學(xué)等眾多領(lǐng)域。
現(xiàn)有的原子熒光光度計多采用非色散式光學(xué)系統(tǒng),其結(jié)構(gòu)見圖2,高性能空心陰極燈12作為激發(fā)光源,經(jīng)入射透鏡系統(tǒng)13會聚于原子化器11處,在與激發(fā)光源垂直的方向(或與光源成一定角度),其所激發(fā)熒光由接收透鏡系統(tǒng)14進(jìn)入光電倍增管15并經(jīng)信號采集處理系統(tǒng)16傳至上位機(jī)進(jìn)行分析。激發(fā)光源是原子熒光光度計的一個重要部件,其輻射能量的穩(wěn)定性直接影響著儀器測量結(jié)果重復(fù)性和準(zhǔn)確性。目前主要用于原子熒光光度計的激發(fā)光源為空心陰極燈,其波動對測量結(jié)果的影響很大,制約著儀器性能的進(jìn)一步提高。而現(xiàn)有校正光源波動的技術(shù)是在激發(fā)光進(jìn)入原子化器前分出部分光進(jìn)入光電檢測器,由于熒光信號檢測和激發(fā)光信號檢測采用了兩只不同的光電檢測器以及不同的放大電路系統(tǒng),器件性能差異造成測量結(jié)果的不一致,無法很好的校正光源波動。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目的是為解決現(xiàn)有的問題,進(jìn)而提供一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置。
本實用新型的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置,包括:原子化器、激發(fā)光源、入射光學(xué)系統(tǒng),接收光學(xué)系統(tǒng)、光電倍增管和信號采集處理系統(tǒng),所述激發(fā)光源射出的光通過入射光學(xué)系統(tǒng)匯聚于原子化器的中心處,所激發(fā)熒光信號經(jīng)接收光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)入光電倍增管并轉(zhuǎn)化為電信號輸入信號采集處理系統(tǒng)。
本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點:本實用新型能有效校正光源不穩(wěn)定性對測量結(jié)果的影響,突破了一直以來制約著原子熒光光度計發(fā)展的技術(shù)瓶頸,提高了儀器的性能指標(biāo)。
附圖說明
圖1為本實用新型用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為現(xiàn)有原子熒光光度計的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合附圖對本實用新型做進(jìn)一步的詳細(xì)說明:本實施例在以本實用新型技術(shù)方案為前提下進(jìn)行實施,給出了詳細(xì)的實施方式,但本實用新型的保護(hù)范圍不限于下述實施例。
如圖1所示,本實施例提供的一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置,包括:原子化器1、激發(fā)光源2、入射光學(xué)系統(tǒng)3,接收光學(xué)系統(tǒng)4、光電倍增管6和信號采集處理系統(tǒng)7,所述激發(fā)光源2射出的光通過入射光學(xué)系統(tǒng)3匯聚于原子化器1的中心處,所激發(fā)熒光信號經(jīng)接收光學(xué)系統(tǒng)4進(jìn)入光電倍增管6并轉(zhuǎn)化為電信號輸入信號采集處理系統(tǒng)7。上述方案通過測定激發(fā)光源散射及背景光信號的方式來計算激發(fā)光信號。
進(jìn)一步的,還包括激發(fā)光反射裝置5,所述激發(fā)光反射裝置5設(shè)置在入射光學(xué)系統(tǒng)3和接收光學(xué)系統(tǒng)4之間的光路上。
所述激發(fā)光反射裝置5為機(jī)械反光裝置或光學(xué)反光裝置。
激發(fā)光源2所輻射光經(jīng)置于其后的入射光學(xué)系統(tǒng)3匯聚于原子化器1的中心處,所激發(fā)熒光信號經(jīng)接收光學(xué)系統(tǒng)4進(jìn)入光電倍增管6。激發(fā)光源所發(fā)出的部分光通過激發(fā)光反射裝置5(可為機(jī)械反光裝置或光學(xué)反光裝置)進(jìn)入光電倍增管6,熒光信號與激發(fā)光信號通過控制激發(fā)光反射裝置5選擇順序進(jìn)入同一光電倍增管6并轉(zhuǎn)化為電信號輸入信號采集處理系統(tǒng)7。激發(fā)光信號經(jīng)采集與處理后反饋于熒光信號測量結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)校正,可有效扣除光源波動所帶來的影響。(在圖1中只畫出了單道光學(xué)系統(tǒng)的情況,雙道及多道光學(xué)系統(tǒng)在單道光學(xué)系統(tǒng)的基礎(chǔ)上與圖1中激發(fā)光源成一定角度加入1-7只激發(fā)光源及相關(guān)器件。)在此系統(tǒng)中,熒光信號和激發(fā)光信號使用同一光電倍增管和放大電路,避免了光電倍增管及電路器件不一致對測量結(jié)果的影響。
以上所述,僅為本實用新型較佳的具體實施方式,這些具體實施方式都是基于本實用新型整體構(gòu)思下的不同實現(xiàn)方式,而且本實用新型的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





