[實(shí)用新型]一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220414279.4 | 申請日: | 2012-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN202794037U | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 宋雅東;孫金龍;陳國偉;王凌昊 | 申請(專利權(quán))人: | 北京普析通用儀器有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京眾合誠成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246 | 代理人: | 龔燮英 |
| 地址: | 101200*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 原子 熒光 光度計 扣除 光源 波動 裝置 | ||
1.一種用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置,包括:原子化器、激發(fā)光源、入射光學(xué)系統(tǒng),接收光學(xué)系統(tǒng)、光電倍增管和信號采集處理系統(tǒng),其特征在于,所述激發(fā)光源射出的光通過入射光學(xué)系統(tǒng)匯聚于原子化器的中心處,所激發(fā)熒光信號經(jīng)接收光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)入光電倍增管并轉(zhuǎn)化為電信號輸入信號采集處理系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置,其特征在于,還包括激發(fā)光反射裝置,所述激發(fā)光反射裝置設(shè)置在入射光學(xué)系統(tǒng)和接收光學(xué)系統(tǒng)之間的光路上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于原子熒光光度計扣除光源波動的裝置,其特征在于,所述激發(fā)光反射裝置為機(jī)械反光裝置或光學(xué)反光裝置。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





