[實用新型]光柵尺自動檢測精密裝置有效
| 申請號: | 201220364699.6 | 申請日: | 2012-07-25 |
| 公開(公告)號: | CN202757590U | 公開(公告)日: | 2013-02-27 |
| 發明(設計)人: | 魏忠;曾成川 | 申請(專利權)人: | 無錫市中捷減震器有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214199 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光柵尺 自動檢測 精密 裝置 | ||
1.一種光柵尺自動檢測精密裝置,包括第一底板(1)、第二底板(2)、第三底板(3)、第四底板(4)、第一氣缸(5)、第二氣缸(6)、第三氣缸(7)、第一夾緊支架(8)、第二夾緊支架(9)、檢測臺(10)、旋轉氣缸(11)和區分板(12),其特征是:所述第一氣缸(5)固定在第一底板(1)上,第一氣缸(5)的活塞桿前端連接第一夾緊支架(8);所述第二氣缸(6)固定在第二底板(2)上,第二氣缸(6)的活塞桿前端連接第二夾緊支架(9);所述第三氣缸(7)固定在第三底板(3)上,第三氣缸(7)的活塞桿前端連接檢測臺(10),檢測臺(10)上固定光柵尺;所述第一底板(1)和第二底板(2)之間設有第四底板(4),第四底板(4)前端設有旋轉氣缸(11),旋轉氣缸(11)前端連接區分板(12)。
2.如權利要求1所述的光柵尺自動檢測精密裝置,其特征是:所述第一夾緊支架(8)前端為內凹弧面。
3.如權利要求1所述的光柵尺自動檢測精密裝置,其特征是:所述第二夾緊支架(9)前端為內凹弧面。
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