[實用新型]一種連續精確調整微型零件位置的裝置

有效

• 申請號: 201220347180.7
• 申請日: 2012-07-17
• 公開（公告）號: CN202947920U
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 戴旭涵;黃奕;汪紅;丁桂甫;趙小林;吳靜;何明軒
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G01N1/36
• 分類號: G01N1/36
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 郭國中

1.一種連續精確調整微型零件位置的裝置，其特征在于包括微調架、位于所述微調架上的進給底座、位于所述進給底座導軌中的進給支架以及位于所述進給支架前端的進給夾具、位于所述進給夾具試樣臺上的擋板。

2.根據權利要求1所述的連續精確調整微型零件位置的裝置，其特征在于：所述的進給夾具包含試樣臺、微進給臂、固定底板，微進給臂位于試樣臺和固定底板之間，其寬度小于試樣臺的寬度，固定底板將進給夾具固定在進給支架上。

3.根據權利要求2所述的連續精確調整微型零件位置的裝置，其特征在于：所述的試樣臺上設有兩段L型的半封閉擋板，擋板的間距大于微試樣的尺寸。

4.根據權利要求1-3任一項所述的連續精確調整微型零件位置的裝置，其特征在于：所述的進給底座包含導軌和限位裝置，所述的進給支架在導軌內滑動并通過限位裝置固定在導軌中。

5.根據權利要求1-3任一項所述的連續精確調整微型零件位置的裝置，其特征在于：所述的微調架在微米量級下調整試樣上下前后左右的位移。

6.根據權利要求5所述的連續精確調整微型零件位置的裝置，其特征在于：所述的微調架其底部和頂部設有定位孔，底部定位孔將整個裝置固定在實驗平臺上，頂部定位孔將所述進給底座固定在微調架上。