[實用新型]光通信用消光比測試系統

有效

• 申請號: 201220325563.4
• 申請日: 2012-07-06
• 公開（公告）號: CN202713307U
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發明（設計）人: 劉昭;夏哲;葉裕強
• 申請（專利權）人: 東莞銘普光磁股份有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;H04B10/25
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 譚一兵;王東亮

技術領域

?本實用新型涉及數字模塊測試領域，尤其是涉及一種光通信用消光比測試系統。

背景技術

隨著光纖通信網絡傳輸技術的提高，光纖傳輸設備的批量應用，光纖傳輸設備的核心器件——光模塊的參數測試成為了一個的重要問題，為了解決這個問題，人們開發出了高速示波器，它采用高速的模數轉換器（ADC）將輸入的信號進行采樣，得到輸入信號為“0”時的平均光功率P₀及輸入信號為“1”時的平均光功率P₁，進而根據消光比公式得到模塊的消光比10lg（P₁/?P₀）。例如安捷倫的86100C示波器，它不僅可以測試光模塊的輸出光功率和消光比，還可以測試光模塊的各種其他參數。

現在市場上測試光模塊參數的儀器價格都比較昂貴，且功能繁多，在光模塊大批量生產時并不需進行測試，而且現有的測試光模塊系統過于繁雜，使得生產、測試和開發成本相對較高，因此需要一種專門應用于生產的測試系統。現有的光通信用數字模塊測試系統，在進行光模塊的性能測試時，需要多種其他設備進行輔助測試，因此各種測試設備電性連接也比較復雜，校準、維護比較困難，且容易出錯。這樣給我們生產測試帶來了很大的不便，使測試變得繁瑣和耗時，消耗了大量的人力物力，而且不利于生產效率的提高。

發明內容

基于此，有必要針對上述背景技術存在的問題，提供一種電連接簡單，制造成本低廉，測試更方便更快捷的光通信用消光比測試系統。

為實現上述目的，本實用新型公開了一種光通信用消光比測試系統，其包括被測光模塊、光分路器、光功率測試單元、消光比測試單元及MCU單元，所述被測光模塊與光分路器光連接，所述光分路器輸出端分別與光功率測試單元及消光比測試單元光連接，所述光功率測試單元及消光比測試單元輸出端分別與所述MCU單元連接，所述光分路器將被測光模塊的輸出光進行比例分配。

在其中一個實施例中，所述光功率測試單元包括光電轉換器，所述光電轉換器一端與所述光分路器光連接，所述光電轉換器另一端與所述MCU單元電連接，所述光電轉換器檢測到所述光分路器的輸出光信號并將光信號轉換成電信號，所述MCU單元接收到所述光電轉換器轉換的電信號。

在其中一個實施例中，所述消光比測試單元包括PIN型光電二極管、跨阻放大器及信號檢測器，所述PIN型光電二極管一端與所述光分路器光連接，所述PIN型光電二極管另一端與所述跨阻放大器電連接，所述跨阻放大器另一端與所述信號檢測器電連接，所述信號檢測器另一端與所述MCU單元電連接，所述PIN型光電二極管檢測到所述光分路器分配的一定比例的輸出光信號，并將光信號轉換成電信號，所述跨阻放大器將電信號轉換成電壓差分信號，差分信號經過所述信號檢測器后轉換成所述MCU單元可接收的信號。

綜上所述，本實用新型光通信用消光比測試系統通過將光分路器與被測光模塊光連接，并將被測光模塊的輸出光進行比例分配給光功率測試單元及消光比測試單元，同時利用光電轉換器及信號檢測器將信號傳給MCU單元并計算得到被測光模塊的光功率及消光比，大大減少了光功率及消光比測試的外部設備，簡化了測試程序，加快了測試速度，同時也大大降低了被測光模塊測試成本。

附圖說明

圖1為本實用新型一種實施例的電路原理圖。

具體實施方式

如圖1所示，本實用新型光通信用消光比測試系統包括被測光模塊10、光分路器20、光功率測試單元30、消光比測試單元40及MCU單元50，所述被測光模塊10與光分路器20光連接，所述光分路器20將被測光模塊10的輸出光進行了一定比例的分配，分光比為N，所述光分路器20輸出端分別與光功率測試單元30及消光比測試單元40光連接，所述光功率測試單元30及消光比測試單元40輸出端分別與所述MCU單元50連接。

所述光功率測試單元30包括光電轉換器31，所述光電轉換器31一端與所述光分路器20光連接，所述光電轉換器31另一端與所述MCU單元50電連接，所述光電轉換器31檢測到所述光分路器20分配的一定比例輸出光信號，并將光信號轉換成電信號，此時光電轉換器31內的電信號電流值為I_PD，所述MCU單元50接收到所述光電轉換器31轉換的電信號，配合所述光電轉換器31的響應度數值R_響應度，計算可以得到被測光模塊10的平均光功率P_AVG=?（1+1/N?）*I_PD/?R_響應度。