[實用新型]光通信用消光比測試系統

有效

• 申請號: 201220325563.4
• 申請日: 2012-07-06
• 公開（公告）號: CN202713307U
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發明（設計）人: 劉昭;夏哲;葉裕強
• 申請（專利權）人: 東莞銘普光磁股份有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;H04B10/25
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 譚一兵;王東亮

1.一種光通信用消光比測試系統，其特征在于：包括被測光模塊、光分路器、光功率測試單元、消光比測試單元及MCU單元，所述被測光模塊與光分路器光連接，所述光分路器輸出端分別與光功率測試單元及消光比測試單元光連接，所述光功率測試單元及消光比測試單元輸出端分別與所述MCU單元連接，所述光分路器將被測光模塊的輸出光進行比例分配。

2.根據權利要求1所述的光通信用消光比測試系統，其特征在于：所述光功率測試單元包括光電轉換器，所述光電轉換器一端與所述光分路器光連接，所述光電轉換器另一端與所述MCU單元電連接，所述光電轉換器檢測到所述光分路器的輸出光信號并將光信號轉換成電信號，所述MCU單元接收到所述光電轉換器轉換的電信號。

3.根據權利要求1所述的光通信用消光比測試系統，其特征在于：所述消光比測試單元包括PIN型光電二極管、跨阻放大器及信號檢測器，所述PIN型光電二極管一端與所述光分路器光連接，所述PIN型光電二極管另一端與所述跨阻放大器電連接，所述跨阻放大器另一端與所述信號檢測器電連接，所述信號檢測器另一端與所述MCU單元電連接，所述PIN型光電二極管檢測到所述光分路器分配的一定比例的輸出光信號，并將光信號轉換成電信號，所述跨阻放大器將電信號轉換成電壓差分信號，差分信號經過所述信號檢測器后轉換成所述MCU單元可接收的信號。