[實(shí)用新型]一種液晶盒測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201220224683.5
• 申請(qǐng)日: 2012-05-17
• 公開（公告）號(hào): CN202661749U
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳娟;柳在健
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11270
• 代理人: 程立民;張穎玲

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及液晶顯示技術(shù)，尤其涉及一種液晶盒測(cè)試設(shè)備。

背景技術(shù)

現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)如圖1所示，主要包括：基臺(tái)4和探頭1兩個(gè)部分，其中，探頭1與探桿連接，探桿可垂直上下擺動(dòng)，從而控制探頭1抬起或落下，探桿與測(cè)試設(shè)備底座8相連，在水平方向位置固定，不能左右移動(dòng)。探頭1上有多個(gè)金屬探針10，金屬探針10與放置于基臺(tái)4表面的液晶面板信號(hào)輸入端2進(jìn)行對(duì)位，從而測(cè)試經(jīng)對(duì)盒工藝后的液晶面板3是否存在不良因素，例如，可檢測(cè)出是否有灰塵、氣泡，信號(hào)線是否有問題等。基臺(tái)4可通過控制旋鈕在水平方向上移動(dòng)，以實(shí)現(xiàn)金屬探針10與液晶面板信號(hào)輸入端2的對(duì)位。

由于金屬探針10和液晶面板信號(hào)輸入端2都比較小，金屬探針10很難與液晶面板信號(hào)輸入端2精準(zhǔn)對(duì)位，因此，現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備進(jìn)行對(duì)位精度調(diào)試比較困難。另外，即使對(duì)位精準(zhǔn)以后，基臺(tái)4只要稍微移動(dòng)，金屬探針10與液晶面板信號(hào)輸入端2的對(duì)位精度就會(huì)被破壞，導(dǎo)致測(cè)試時(shí)液晶面板信號(hào)施加不正常，無法進(jìn)行正常測(cè)試。

還有，現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備在進(jìn)行金屬探針10與液晶面板信號(hào)輸入端2的對(duì)位時(shí)，調(diào)節(jié)精度的控制比較困難，使得目前所使用設(shè)備的精度調(diào)節(jié)比較困難，測(cè)試精度難以控制。

實(shí)用新型內(nèi)容

有鑒于此，本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種液晶盒測(cè)試設(shè)備，能實(shí)現(xiàn)金屬探針與液晶面板信號(hào)輸入端的準(zhǔn)確對(duì)位。

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的：

本實(shí)用新型提供一種液晶盒測(cè)試設(shè)備，包括探頭、基臺(tái)、底座；其中，

在所述探頭上設(shè)置有輔助對(duì)位的上反光鏡；

在所述基臺(tái)靠近所述探頭一側(cè)的上表面設(shè)置有輔助對(duì)位的下反光鏡，所述下反光鏡的鏡面與所述上反光鏡的鏡面相對(duì)。

進(jìn)一步地，所述上反光鏡的面積大于所述探頭的面積，且鏡面朝下。

進(jìn)一步地，所述基臺(tái)表面放置有液晶面板信號(hào)輸入端；所述下反光鏡的面積大于所述液晶面板信號(hào)輸入端所在區(qū)域的面積。

較佳地，在所述底座遠(yuǎn)離所述探頭的一邊設(shè)置有第一底座刻度尺，在另外一個(gè)或另外兩個(gè)側(cè)邊設(shè)置有第二底座刻度尺。

較佳地，在所述基臺(tái)上遠(yuǎn)離所述探頭的一邊設(shè)置有第一基臺(tái)刻度尺，在另外一個(gè)或另外兩個(gè)側(cè)邊設(shè)置有第二基臺(tái)刻度尺。

本實(shí)用新型所提供的液晶盒測(cè)試設(shè)備，在現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備的探頭上和液晶面板信號(hào)輸入端所在的位置的基臺(tái)上設(shè)置輔助對(duì)位用的反光鏡，在測(cè)試設(shè)備承載基臺(tái)的底座上及在基臺(tái)上設(shè)置刻度尺，以輔助用戶在進(jìn)行對(duì)位時(shí)掌握移動(dòng)距離。本實(shí)用新型加入了鏡子與刻度尺作為輔助對(duì)位部件，不僅能改善精度調(diào)節(jié)的方法，使測(cè)試精度調(diào)節(jié)更容易；而且使測(cè)試精度能更容易、更好地得到控制。顯然，本實(shí)用新型使測(cè)試時(shí)對(duì)位更加容易，精度更容易控制，從而使測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確可靠。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備進(jìn)行對(duì)位時(shí)的示意圖；

圖2為本實(shí)用新型提供的液晶盒測(cè)試設(shè)備及進(jìn)行對(duì)位的示意圖；

1-探頭；2-液晶面板信號(hào)輸入端；3-液晶面板；4-基臺(tái)；4A-第一基臺(tái)刻度尺；4B-第二基臺(tái)刻度尺；5-上反光鏡；6-下反光鏡；7A-第一底座刻度尺；7B-第二底座刻度尺；8-底座；10-金屬探針。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下舉實(shí)施例并參照附圖，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。

圖2為本實(shí)用新型提供的液晶盒測(cè)試設(shè)備及進(jìn)行對(duì)位的示意圖，該新型液晶盒測(cè)試設(shè)備是對(duì)現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備的改進(jìn)。

如圖2所示，本實(shí)用新型對(duì)現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備所做的第一點(diǎn)改進(jìn)是：

在探頭1上增加輔助對(duì)位用的上反光鏡5；在基臺(tái)4靠近探頭1一側(cè)的上表面增加輔助對(duì)位用的下反光鏡6，下反光鏡6的鏡面與上反光鏡5的鏡面相對(duì)；

較佳的，上反光鏡5的面積要大于探頭1的面積，且鏡面朝下；

另外，較佳的，下反光鏡6的面積要大于液晶面板信號(hào)輸入端2所在區(qū)域的面積，從而使用戶能夠通過寬出的鏡面中看到金屬探針10；

增加上反光鏡5和下反光鏡6后，上反光鏡5能夠?qū)⑻筋^1上的金屬探針10與液晶面板信號(hào)輸入端2對(duì)位情況反射到下反光鏡6中，通過下反光鏡6可以清楚地看到金屬探針10及金屬探針10與液晶面板信號(hào)輸入端2的對(duì)位情況，從而使得對(duì)位的精度更容易掌握，對(duì)位更加容易、快速、準(zhǔn)確。

本實(shí)用新型對(duì)現(xiàn)有液晶盒測(cè)試設(shè)備所做的第二點(diǎn)改進(jìn)是：