[實用新型]一種液晶盒測試設備有效
| 申請號： | 201220224683.5 | 申請日： | 2012-05-17 |
| 公開（公告）號： | CN202661749U | 公開（公告）日： | 2013-01-09 |
| 發明（設計）人： | 陳娟;柳在健 | 申請（專利權）人： | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京派特恩知識產權代理事務所(普通合伙) 11270 | 代理人： | 程立民;張穎玲 |
| 地址： | 100015 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 液晶 測試 設備 | ||
【權利要求書】：
1.一種液晶盒測試設備，包括探頭、基臺、底座，其特征在于，
在所述探頭上設置有輔助對位的上反光鏡；
在所述基臺靠近所述探頭一側的上表面設置有輔助對位的下反光鏡，所述下反光鏡的鏡面與所述上反光鏡的鏡面相對。
2.根據權利要求1所述的液晶盒測試設備，其特征在于，所述上反光鏡的面積大于所述探頭的面積，且鏡面朝下。
3.根據權利要求1或2所述的液晶盒測試設備，其特征在于，所述基臺表面放置有液晶面板信號輸入端；所述下反光鏡的面積大于所述液晶面板信號輸入端所在區域的面積。
4.根據權利要求1所述的液晶盒測試設備，其特征在于，
在所述底座遠離所述探頭的一邊設置有第一底座刻度尺，在另外一個或另外兩個側邊設置有第二底座刻度尺。
5.根據權利要求1所述的液晶盒測試設備，其特征在于，
在所述基臺上遠離所述探頭的一邊設置有第一基臺刻度尺，在另外一個或另外兩個側邊設置有第二基臺刻度尺。
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