[實用新型]RFIC交錯式分類測試的結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220223653.2 | 申請日： | 2012-05-18 |
| 公開（公告）號： | CN202693749U | 公開（公告）日： | 2013-01-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陳良波;賀云朋 | 申請（專利權(quán)）人： | 全智科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 長春市吉利專利事務(wù)所 22206 | 代理人： | 張紹嚴;王大珠 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | rfic 交錯 分類 測試 結(jié)構(gòu) | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種RFIC交錯式分類測試的結(jié)構(gòu)，其為一用來檢測并分類至少一芯片模塊的分類測試裝置，其特征在于該分類測試裝置包括：
至少一測試模塊以及復(fù)數(shù)分類模塊，測試模塊測試各芯片模塊；
分類結(jié)構(gòu)的復(fù)數(shù)分類模塊包括分別同時對各芯片模塊進行分類的一第一分類模塊及一第二分類模塊，該第一分類模塊及該第二分類模塊信息連接該測試模塊，且該第一分類模塊及該第二分類模塊分別分類各該芯片模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的RFIC交錯式分類測試的結(jié)構(gòu)，其特征在于：其中該測試模塊于測試各該芯片模塊后產(chǎn)生一分類指令單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的RFIC交錯式分類測試的結(jié)構(gòu)，其特征在于：其中該些分類模塊接收該分類指令單元，且該些分類模塊依據(jù)該分類指令單元對該芯片模塊進行分類。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的RFIC交錯式分類測試的結(jié)構(gòu)，其特征在于：其中該芯片模塊為RFIC芯片。
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