[實用新型]自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統

有效

• 申請號: 201220165989.8
• 申請日: 2012-04-18
• 公開（公告）號: CN202649401U
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 彭軍
• 申請（專利權）人: 廣州市三才通訊科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/01;G05B19/418
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 李新林

1.一種自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統，其特征在于：包括外部控制設備、頂層控制電路、中間層控制電路及測試架，所述外部控制設備與所述頂層控制電路相連，所述頂層控制電路連接有至少一個所述中間層控制電路，每個所述中間層控制電路連接有多個所述測試架，每個所述測試架上設置有一末層控制電路，每個所述末層控制電路連接有多個測試板，每個測試板上設置有多個待測晶振節點。

2.如權利要求1所述的自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統，其特征在于：所述頂層控制電路包括一級總控單片機、一級信號驅動電路、第一和第二RS232/TTL電平轉換裝置、第一八選一通道開關及若干開關K1～K6，所述開關K1～K6均受控于所述一級總控單片機，所述一級總控單片機的信號輸入端通過開關K1和第一RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述外部控制設備的RS232信號輸出端或通過開關K1連接至所述外部控制設備的TTL信號輸出端，通過開關K3和所述第一八選一通道開關連接至所述中間層控制電路的輸出端，通過開關K6和第二RS232/TTL電平轉換裝置連接至一頻率測試設備，所述一級總控單片機的信號輸出端通過開關K4和第一RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述外部控制設備的RS232信號輸入端或通過開關K4連接至所述外部控制設備的TTL信號輸入端，通過開關K2和所述一級信號驅動電路連接至所述中間層控制電路的輸入端。

3.如權利要求2所述的自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統，其特征在于：所述中間層控制電路包括二級總控單片機、二級信號驅動電路、第三RS232/TTL電平轉換裝置、第二八選一通道開關及若干開關K7～K10，所述開關K7～K10均受控于所述二級總控單片機，所述二級總控單片機的信號輸入端通過開關K7連接至所述頂層控制電路的TTL信號輸出端或通過開關K7和第三RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述頂層控制電路的RS232信號輸出端，通過開關K9和所述第二八選一通道開關連接至所述末層控制電路的輸出端，所述二級總控單片機的信號輸出端通過開關K10連接至所述頂層控制電路的TTL信號輸入端或通過開關K10和所述第三RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述頂層控制電路的RS232信號輸入端，通過開關K8和所述二級信號驅動電路連接至所述末層控制電路的輸入端。

4.如權利要求3所述的自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統，其特征在于：所述末層控制電路包括末級總控單片機、末級信號驅動電路、第四RS232/TTL電平轉換裝置及開關K11和開關K12，所述開關K11和開關K12均受控于所述末級總控單片機，所述末級總控單片機的信號輸入端通過開關K11連接至所述中間層控制電路的TTL信號輸出端或通過開關K11和第四RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述中間層控制電路的RS232信號輸出端，所述末級總控單片機的信號輸出端通過開關K12連接至所述中間層控制電路的TTL信號輸入端或通過開關K12和所述第四RS232/TTL電平轉換裝置連接至所述中間層控制電路的RS232信號輸入端，通過所述末級信號驅動電路連接至各測試板的輸入端。

5.如權利要求4所述的自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統，其特征在于：所述測試板上設置有選擇單個待測晶振節點的晶振選擇電路，所述晶振選擇電路包括地址驅動電路、地址片選電路、與非門、第一和第二三八譯碼裝置以及第三和第四八選一通道開關，所述地址片選電路的輸入端與所述末層控制電路的輸出端相連，所述地址片選電路的輸出端同時與所述地址驅動電路、第一三八譯碼裝置以及第三八選一通道開關相連，所述第一三八譯碼裝置的輸出端同時與所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關相連，所述第二三八譯碼裝置的輸出端連接至所述與非門的一輸入端，所述與非門的另一輸入端與被測晶體振蕩器相連，所述與非門的輸出端通過所述第四八選一通道開關與所述第三八選一通道開關相連，所述地址驅動電路的輸出端連接至所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關。

6.如權利要求5所述的自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統，其特征在于：所述頂層控制電路、中間層控制電路及末層控制電路中各層控制電路均包括一頻率選擇輸出模塊，所述頻率選擇輸出模塊包括由下級系統提供的8路頻率輸入、可接收本級總控單片機所輸出的地址片選信號且將所選擇頻率輸出給上級系統的第五八選一通道開關，其中，所述頂層控制電路的頻率輸出的上級系統是所述頻率測試設備，所述末層控制電路的頻率輸入是各測試板的頻率輸出。