[實用新型]自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220165989.8
• 申請日: 2012-04-18
• 公開（公告）號: CN202649401U
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發(fā)明（設計）人: 彭軍
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州市三才通訊科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/01;G05B19/418
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 李新林

技術(shù)領域

本實用新型涉及晶體振蕩器的測試技術(shù)，更具體地涉及一種自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在當前同類型晶振老化率測試系統(tǒng)中，一個測試架都必須配置一臺測試計算機，當需要對多個測試架內(nèi)的測試板進行節(jié)點(晶振)老化率測試時，則需要配備多臺測試計算機并單獨對每臺計算機進行操作，該方式不僅浪費了計算機資源，增大測試成本而且也導致測試效率低下。鑒于此，有必要提供一種基于同一上位機而進行多級控制的可自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統(tǒng)以節(jié)約測試成本且提高測試效率。

實用新型內(nèi)容

本實用新型的目的是提供一種基于同一上位機而進行多級控制的自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統(tǒng)以節(jié)約測試成本且提高測試效率。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型所采用的技術(shù)方案為：提供一種自動測量批量晶體振蕩器老化率的測試系統(tǒng)，其包括外部控制設備、頂層控制電路、中間層控制電路及測試架，所述外部控制設備與所述頂層控制電路相連，所述頂層控制電路連接有至少一個所述中間層控制電路，每個所述中間層控制電路連接有多個所述測試架，每個所述測試架上設置有一末層控制電路，每個所述末層控制電路連接有多個測試板，每個測試板上設置有多個待測晶振節(jié)點。

其進一步技術(shù)方案為：所述頂層控制電路包括一級總控單片機、一級信號驅(qū)動電路、第一和第二RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置、第一八選一通道開關及若干開關K1～K6，所述開關K1～K6均受控于所述一級總控單片機，所述一級總控單片機的信號輸入端通過開關K1和第一RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述外部控制設備的RS232信號輸出端或通過開關K1連接至所述外部控制設備的TTL信號輸出端，通過開關K3和所述第一八選一通道開關連接至所述中間層控制電路的輸出端，通過開關K6和第二RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至一頻率測試設備，所述一級總控單片機的信號輸出端通過開關K4和第一RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述外部控制設備的RS232信號輸入端或通過開關K4連接至所述外部控制設備的TTL信號輸入端，通過開關K2和所述一級信號驅(qū)動電路連接至所述中間層控制電路的輸入端。

其進一步技術(shù)方案為：所述中間層控制電路包括二級總控單片機、二級信號驅(qū)動電路、第三RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置、第二八選一通道開關及若干開關K7～K10，所述開關K7～K10均受控于所述二級總控單片機，所述二級總控單片機的信號輸入端通過開關K7連接至所述頂層控制電路的TTL信號輸出端或通過開關K7和第三RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述頂層控制電路的RS232信號輸出端，通過開關K9和所述第二八選一通道開關連接至所述末層控制電路的輸出端，所述二級總控單片機的信號輸出端通過開關K10連接至所述頂層控制電路的TTL信號輸入端或通過開關K10和所述第三RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述頂層控制電路的RS232信號輸入端，通過開關K8和所述二級信號驅(qū)動電路連接至所述末層控制電路的輸入端。

其進一步技術(shù)方案為：所述末層控制電路包括末級總控單片機、末級信號驅(qū)動電路、第四RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置及開關K11和開關K12，所述開關K11和開關K12均受控于所述末級總控單片機，所述末級總控單片機的信號輸入端通過開關K11連接至所述中間層控制電路的TTL信號輸出端或通過開關K11和第四RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述中間層控制電路的RS232信號輸出端，所述末級總控單片機的信號輸出端通過開關K12連接至所述中間層控制電路的TTL信號輸入端或通過開關K12和所述第四RS232/TTL電平轉(zhuǎn)換裝置連接至所述中間層控制電路的RS232信號輸入端，通過所述末級信號驅(qū)動電路連接至各測試板的輸入端。

其進一步技術(shù)方案為：所述測試板上設置有選擇單個待測晶振節(jié)點的晶振選擇電路，所述晶振選擇電路包括地址驅(qū)動電路、地址片選電路、與非門、第一和第二三八譯碼裝置以及第三和第四八選一通道開關，所述地址片選電路的輸入端與所述末層控制電路的輸出端相連，所述地址片選電路的輸出端同時與所述地址驅(qū)動電路、第一三八譯碼裝置以及第三八選一通道開關相連，所述第一三八譯碼裝置的輸出端同時與所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關相連，所述第二三八譯碼裝置的輸出端連接至所述與非門的一輸入端，所述與非門的另一輸入端與被測晶體振蕩器相連，所述與非門的輸出端通過所述第四八選一通道開關與所述第三八選一通道開關相連，所述地址驅(qū)動電路的輸出端連接至所述第二三八譯碼裝置和第四八選一通道開關。