[實用新型]單晶晶棒垂直度測試儀

有效

• 申請號: 201220152682.4
• 申請日: 2012-04-11
• 公開（公告）號: CN202599363U
• 公開（公告）日: 2012-12-12
• 發明（設計）人: 侯前偉;周俊;陳金林
• 申請（專利權）人: 常州天合光能有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26;G01B11/27
• 代理公司: 常州市維益專利事務所 32211
• 代理人: 王凌霄

1.一種單晶晶棒垂直度測試儀，其特征在于：具有支架(1)、透明平面板(2)、平面鏡(3)和激光筆(4)，透明平面板(2)水平固定在支架(1)上，透明平面板(2)上標示出標示點(5)，激光筆(4)固定于支架(1)上，激光筆(4)的光束垂直于透明平面板(2)并且穿過標示點(5)，平面鏡(3)活動連接在支架(1)上，激光筆(4)和平面鏡(3)分別位于透明平面板(2)的上方和下方。

2.根據權利要求1所述的單晶晶棒垂直度測試儀，其特征是：所述的支架(1)由不銹鋼管構成。

3.根據權利要求1所述的單晶晶棒垂直度測試儀，其特征是：所述的透明平面板(2)為透明硬質塑料材質。