[實用新型]光學測量裝置

有效

• 申請號: 201220151889.X
• 申請日: 2012-04-11
• 公開（公告）號: CN202599864U
• 公開（公告）日: 2012-12-12
• 發明（設計）人: 陳大志;鄭媛;孫曉偉;史偉杰
• 申請（專利權）人: 法國圣戈班玻璃公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 朱勝;李春暉

技術領域

本實用新型涉及光學儀器技術領域，尤其涉及一種光學測量裝置。

背景技術

玻璃具有透明、強度高、不透氣的特點，在日常環境中呈化學惰性，也不會與生物起作用，因此用途非常廣泛。常見的玻璃包括汽車玻璃、平板玻璃、保溫玻璃等。

在玻璃制造過程中，難免會在玻璃內部或玻璃表面形成諸如劃傷、污點、顆粒等的缺陷。如何能檢查出玻璃內部或玻璃表面的上述缺陷成為本領域技術人員亟待解決的問題之一。

在現有技術的測量裝置中，由于具有缺陷的待測面可以位于玻璃表面也可以位于玻璃內部，通常采用自動光學測量系統(Automatic?Optical?Inspection，AOI)對不同的待測面進行聚焦，以檢測玻璃表面或玻璃內部所有的缺陷。此外，即使是對玻璃表面進行測量，由于各種玻璃的厚度的不同，對各種玻璃進行光學測量時，也需要AOI系統對玻璃的待測表面進行聚焦。

但是，所述AOI系統價格較高，因此采用AOI系統的光學測量裝置成本較高。同時，也會增加對測量裝置操作的復雜程度。

更多關于測量玻璃缺陷的光學測量裝置的技術方案可參考公告號為CN101652625B的中國專利，所述中國專利公開的技術方案也未能解決上述技術問題。

實用新型內容

本實用新型解決的技術問題是提供一種結構較為簡單的光學測量裝置

為了解決上述問題，本實用新型提供一種光學測量裝置，用于測量透明基板，包括：固定所述透明基板的固定器件，所述固定器件與所述透明基板的待測表面相接觸；對所述待測表面進行成像，形成待測表面像的成像器件；位于所述待測表面像的像面位置處，通過探測所述待測表面像獲得缺陷信息的探測器件。

可選地，所述固定器件為支撐式固定器件，所述透明基板位于所述支撐式固定器件的上方，所述透明基板的待測表面與所述支撐式固定器件的上表面相接觸。

可選地，所述成像器件位于支撐式固定器件上方，所述探測器件位于所述成像器件的上方。

可選地，所述支撐式固定器件為基臺。

可選地，所述固定器件為懸掛式固定器件，所述透明基板的待測表面與所述懸掛式固定器件的底部相接觸。

可選地，所述固定器件包括固定于透明基板上表面邊緣位置處的兩個懸掛式固定器件，所述透明基板位于所述兩個懸掛式固定器件的下方，所述透明基板的待測表面與所述兩個懸掛式固定器件的底部相接觸。

可選地，所述成像器件位于透明基板下方，所述探測器件位于所述成像器件的下方。

可選地，所述成像器件位于透明基板上方，所述探測器件位于所述成像器件的上方。

可選地，所述懸掛式固定器件包括固定部、連接部、吸盤，所述固定部通過連接部與吸盤連接在一起，所述吸盤與所述透明基板上表面的邊緣位置處相接觸。

可選地，所述懸掛式固定器件包括固定部、連接部、夾持部，所述固定部通過連接部與夾持部的頂面連接在一起，透明基板的端部嵌入至所述夾持部內，與夾持部緊密接觸，以實現固定。

可選地，所述成像器件為凸透鏡。

可選地，所述探測器件為圖像傳感器。

可選地，所述探測器件為CMOS圖像傳感器或CCD圖像傳感器。

可選地，所述成像器件和所述探測器件集成在一起。

可選地，所述光學測量裝置還包括照明器件，用于照亮所述待測表面。

可選地，所述照明器件包括至少一個光源，所述光源發出的光掠入射至待測表面。

可選地，所述照明器件包括位于透明基板任意一側的光源。

可選地，所述照明器件包括分別位于透明基板相對側的兩個光源。

可選地，所述固定器件為基臺，所述兩個光源裝配于基臺側面，所述兩個光源的發光面朝向基臺。

可選地，所述光源為線性燈或線性激光。

可選地，所述光源發出的光入射至待測表面的入射角在80～90°的范圍內。

可選地，所述光學測量裝置還包括掃描器件，所述掃描器件與成像器件和探測器件固定在一起，所述掃描器件能沿與待測表面平行的平面移動，以帶動所述成像器件和所述探測器件移動，獲取待測表面不同位置處的缺陷信息。

可選地，所述透明基板為玻璃。

與現有技術相比，本實用新型具有以下優點：