[實用新型]測試高純試劑中微量金屬雜質的亞沸蒸餾裝置

有效

• 申請號: 201220015235.4
• 申請日: 2012-01-13
• 公開（公告）號: CN202471493U
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 付呈琳;童淑麗;李輝;李冰川;廖紅英;孟蓉
• 申請（專利權）人: 北京化學試劑研究所
• 主分類號: G01N1/40
• 分類號: G01N1/40
• 代理公司: 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260
• 代理人: 鄭立明;趙鎮勇

技術領域

本實用新型涉及分析測試用裝置領域，尤其是涉及一種測試高純試劑中微量金屬雜質的亞沸蒸餾裝置。

背景技術

高純化學試劑，通常含量都控制在99.9％以上，控制指標非常嚴格，特別是微量金屬雜質，但是，往往高純試劑在測試中微量金屬雜質的含量僅僅在幾個ppm以內，因此ICP測量金屬雜質前，需要對樣品進行富集，通常對化學試劑采用恒沸蒸餾法進行去除主體進行蒸餾，然而，高純試劑在沸騰冷凝的過程中，受熱溫度高，沸騰劇烈，使得高純試劑中的金屬雜質伴隨蒸發，降低了富集的效果，使得測試結果偏小。

實用新型內容

本實用新型實施方式提供一種測試高純試劑中微量金屬雜質的亞沸蒸餾裝置，可以解決目前高純試劑在沸騰冷凝的過程中，受熱溫度高，沸騰劇烈，使得高純試劑中的金屬雜質伴隨蒸發，降低了富集的效果，使得測試結果偏小的問題。

為解決上述問題本實用新型提供的技術方案如下：

本實用新型實施方式提供一種測試高純試劑中微量金屬雜質的亞沸蒸餾裝置，該裝置包括：

電子控溫加熱器、支架、密封樣品臺和冷凝罩；其中，

所述電子控溫加熱器設置在支架上，電子控溫加熱器上方設置放置樣品的密封樣品臺，密封樣品臺與所述電子控溫加熱器的距離為5～8cm，所述密封樣品臺上設有溫度傳感器，所述密封樣品臺上設有扣住樣品的冷凝罩。

上述裝置中，所述支架、密封樣品臺和冷凝罩下部均設有液封，所述支架、密封樣品臺和冷凝罩的空腔內各設有一個通氣管，三者的通氣管相互連通；所述支架、密封樣品臺和冷凝罩的各自通氣管高度均高于各自液封的液面。

上述裝置還包括：電子控溫儀，所述溫度傳感器和電子控溫加熱器通過電線與電子控溫儀相連，由所述電子控溫儀根據所述溫度傳感器對電子控溫加熱器進行溫度控制。

上述裝置中，所述電線外部采用PFA材料或耐腐蝕塑料包裹。

上述裝置中，所述冷凝罩為雙層圓形罩，其內層為冷凝水層，外部為冷卻亞沸的高純試劑層，頂部設有進水口，底部設有出水口。

由上述提供的技術方案可以看出，本實用新型實施方式提供的蒸餾裝置結構簡單，避免了明火加熱、易于控制，可以滿足多種高純試劑微量金屬雜質的測量，避免了富集過程中的恒沸沸騰下微量金屬元素的流失、測量結果準確。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域的普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他附圖。

圖1為本實用新型實施例提供的蒸餾裝置的示意圖；

圖中各標號對應的部件名稱為：1-電子控溫加熱器；2-支架；3-密封樣品臺；4-樣品；5-溫度傳感器；6-冷凝罩；7-液封；8-通氣管；9-電線；10-電子控溫儀；11-冷凝罩進水口；12-冷凝罩出水口。

具體實施方式

下面結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型的保護范圍。

下面將結合附圖對本實用新型實施例作進一步地詳細描述。

本實用新型實施例提供一種測試高純試劑中微量金屬雜質的亞沸蒸餾裝置，如圖1所示，該裝置包括：電子控溫加熱器、支架、密封樣品臺和冷凝罩；

其中，所述電子控溫加熱器設置在支架上作為熱源，電子控溫加熱器上方設置放置樣品的密封樣品臺，密封樣品臺與所述電子控溫加熱器的距離為5～8cm，所述密封樣品臺上設有溫度傳感器，所述密封樣品臺上設有扣住樣品的冷凝罩。

上述裝置中，所述支架、密封樣品臺和冷凝罩下部均設有液封，所述支架、密封樣品臺和冷凝罩的空腔內各設有一個通氣管，三者的通氣管相互連通；所述支架、密封樣品臺和冷凝罩的各自通氣管高度均高于各自液封的液面。

上述裝置還包括：電子控溫儀，所述溫度傳感器和電子控溫加熱器通過電線與電子控溫儀相連，由所述電子控溫儀根據所述溫度傳感器對電子控溫加熱器進行溫度控制。

上述裝置中，所述電線外部采用PFA材料或耐腐蝕塑料包裹。

上述裝置中，所述冷凝罩為雙層圓形罩，其內層為冷凝水層，外部為冷卻亞沸的高純試劑層，頂部設有進水口，底部設有出水口。