[實(shí)用新型]測(cè)試高純?cè)噭┲形⒘拷饘匐s質(zhì)的亞沸蒸餾裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201220015235.4 | 申請(qǐng)日: | 2012-01-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN202471493U | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-10-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 付呈琳;童淑麗;李輝;李冰川;廖紅英;孟蓉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京化學(xué)試劑研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N1/40 | 分類號(hào): | G01N1/40 |
| 代理公司: | 北京凱特來(lái)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11260 | 代理人: | 鄭立明;趙鎮(zhèn)勇 |
| 地址: | 102607 北京市大興區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 高純 試劑 微量 金屬 雜質(zhì) 蒸餾 裝置 | ||
1.一種測(cè)試高純?cè)噭┲形⒘拷饘匐s質(zhì)的亞沸蒸餾裝置,其特征在于,該裝置包括:
電子控溫加熱器、支架、密封樣品臺(tái)和冷凝罩;其中,
所述電子控溫加熱器設(shè)置在支架上,電子控溫加熱器上方設(shè)置放置樣品的密封樣品臺(tái),密封樣品臺(tái)與所述電子控溫加熱器的距離為5~8cm,所述密封樣品臺(tái)上設(shè)有溫度傳感器,所述密封樣品臺(tái)上設(shè)有扣住樣品的冷凝罩。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試高純?cè)噭┲形⒘拷饘匐s質(zhì)的亞沸蒸餾裝置,其特征在于,所述支架、密封樣品臺(tái)和冷凝罩下部均設(shè)有液封,所述支架、密封樣品臺(tái)和冷凝罩的空腔內(nèi)各設(shè)有一個(gè)通氣管,三者的通氣管相互連通;所述支架、密封樣品臺(tái)和冷凝罩的各自通氣管高度均高于各自液封的液面。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試高純?cè)噭┲形⒘拷饘匐s質(zhì)的亞沸蒸餾裝置,其特征在于,還包括:電子控溫儀,所述溫度傳感器和電子控溫加熱器通過(guò)電線與電子控溫儀相連,由所述電子控溫儀根據(jù)所述溫度傳感器對(duì)電子控溫加熱器進(jìn)行溫度控制。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試高純?cè)噭┲形⒘拷饘匐s質(zhì)的亞沸蒸餾裝置,其特征在于,所述電線外部采用PFA材料或耐腐蝕塑料包裹。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試高純?cè)噭┲形⒘拷饘匐s質(zhì)的亞沸蒸餾裝置,其特征在于,所述冷凝罩為雙層圓形罩,其內(nèi)層為冷凝水層,外部為冷卻亞沸的高純?cè)噭樱敳吭O(shè)有進(jìn)水口,底部設(shè)有出水口。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京化學(xué)試劑研究所,未經(jīng)北京化學(xué)試劑研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220015235.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種混凝土早期抗裂性能測(cè)試裝置
- 下一篇:一種甲鈷胺配液分析用避光架
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





