[發明專利]顯微鏡檢驗用試樣的制備方法及檢查試樣覆蓋質量的裝置

有效

• 申請號: 201210599204.2
• 申請日: 2012-12-12
• 公開（公告）號: CN103257061B
• 公開（公告）日: 2018-09-11
• 發明（設計）人: B·奈夫;C·維爾克;K-H·維斯特霍夫
• 申請（專利權）人: 徠卡生物系統努斯洛克有限公司
• 主分類號: G01N1/28
• 分類號: G01N1/28;G02B21/34
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 顧峻峰

1.一種其上蓋有玻璃蓋玻片的顯微鏡檢驗用試樣的制備方法，其中，所述制備方法在覆蓋機中執行，所述方法包括：

自動地且至少部分地在暗場照明下光學地檢查玻璃蓋玻片在試樣上的覆蓋質量；

使用所述覆蓋機檢查所述試樣的著色質量；

為了檢查，生成蓋玻片的至少一幅圖像；

通過分析裝置來自動地分析所述圖像，從而使用所述分析裝置自動地識別有缺陷的被覆蓋的試樣；以及

基于所述分析裝置的結果，重新覆蓋有缺陷的被覆蓋的試樣，以使得向后續的實驗室過程提供無缺陷覆蓋的試樣。

2.根據權利要求1的方法，其特征在于，進行關于如下的檢查，即

a. 在覆蓋操作之后蓋玻片是否被損壞，和/或

b. 在覆蓋操作之后蓋玻片是否存在裂縫，和/或

c. 在蓋玻片中是否存在氣體包含物，和/或

d. 在蓋玻片和試樣之間是否存在氣體包含物，和/或

e. 是否存在蓋玻片表面不規則。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，為了檢查，生成蓋玻片的至少一幅顯微圖像。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，灰度圖像作為圖像被生成。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，包括如下步驟中的至少一種：

a. 在圖像生成的情況下照亮蓋玻片和/或嵌入介質；

b. 在明場照明下生成圖像；

c. 在暗場照明下生成圖像。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，通過具有數據處理裝置的分析裝置自動地分析圖像。

7.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

在明場照明下和暗場照明下生成圖像，且將這些圖像互相進行比較。

8.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，圖像獲取角和/或照明角度是可調節的。

9.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在檢查覆蓋質量之前，人工地或自動地測量參考圖像的平均亮度和/或亮度分布。

10.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在檢查覆蓋質量之前，人工地或自動地測量沒有試樣的被覆蓋的載玻片的平均亮度和/或亮度分布。

11.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，

由所測量的平均亮度和亮度分布計算用于生成圖像的曝光時間。

12.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，基于測得的亮度和/或亮度分布來為每個圖像實施對所述圖像的校正。

13.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，基于測得的亮度和/或亮度分布來為每個圖像實施對所述圖像的明暗校正。

14.根據權利要求1到11之一所述的方法，其特征在于，

a. 生成總圖像；和/或

b. 讀出試樣特征碼。

15.根據權利要求1到11之一所述的方法，其特征在于，

a. 生成總圖像；和/或

b. 讀出附連于載玻片或蓋玻片的條形碼。

16.根據權利要求1到2之一所述的方法，其特征在于，

a. 在不同條件下按時間順序依次檢查相同的覆蓋結果。

17.根據權利要求1到2之一所述的方法，其特征在于，

a. 檢查試樣的著色質量和/或色彩強度。