[發明專利]固體密度測量方法和檢驗靶材密度是否合格的方法

有效

• 申請號: 201210594604.4
• 申請日: 2012-12-31
• 公開（公告）號: CN103913399A
• 公開（公告）日: 2014-07-09
• 發明（設計）人: 姚力軍;相原俊夫;大巖一彥;潘杰;王學澤;李小萍
• 申請（專利權）人: 寧波江豐電子材料有限公司
• 主分類號: G01N9/00
• 分類號: G01N9/00;G01N9/36
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

1.一種固體密度測量方法，其特征在于，

提供固體試樣；

測量固體試樣在空氣中的質量為第一測量質量M0；

將固體試樣浸沒在液體中，測量固體試樣在液體中的質量為第二測量質量M2；

根據M0+ρ_空gV_物＝M2+ρ_液gV_物，獲取固體試樣的體積；其中，ρ_空為空氣的密度、ρ_液為液體的密度；

根據固體試樣的體積以及實際質量，獲取固體試樣的密度，所述實際質量為M0+ρ_空gV_物或M2+ρ_液gV_物。

2.根據權利要求1所述的固體密度測量方法，其特征在于，測量所述第一質量M0和所述第二質量M2的方法包括：

提供電子天平，所述電子天平具有稱量盤，在所述稱量盤上安裝測量輔助裝置，所述測量輔助裝置包括：

與所述稱量盤連接的檢測支架，所述檢測支架上設置有托盤，所述托盤置于所述稱量盤上方；

將盛有液體的第一容器放在電子天平的稱量盤上；

在所述液體中設置第二容器，且使所述第二容器完全浸沒在第一容器中的液體內，所述第二容器和所述托盤通過載物工作線連接，以使第二容器不接觸第一容器底部；

安裝完所述測量輔助裝置后，對電子天平進行去皮調零處理，以去除所述測量輔助裝置對所述稱量盤施加的力，使得天平的讀數為零；

對電子天平進行去皮調零后，將固體試樣放在第二容器中，所述液體浸沒所述固體試樣且不溢出第一容器，記錄電子天平顯示的讀數，得到第二測量質量M2。

3.根據權利要求2所述的固體密度測量方法，其特征在于，測量所述第一質量M0的方法包括：將固體試樣放置于所述托盤上，記錄電子天平顯示的讀數，得到第一測量重量M0。

4.根據權利要求2所述的固體密度測量方法，其特征在于，將固體試樣放在第二容器中之前，還包括步驟：

在電子天平外設置第三容器，所述第三容器中盛有所述液體，將固體試樣浸沒在所述第三容器中的液體中；

待固體試樣在所述第三容器的液體中充分浸濕后，取出所述固體試樣；

去除所述固體試樣后，去除所述固體試樣表面的液珠。

5.根據權利要求2所述的固體密度測量方法，其特征在于，所述將固體試樣放在第二容器中的時間大于等于30min后，再記錄電子天平顯示的讀數。

6.根據權利要求2所述的固體密度測量方法，其特征在于，所述液體的密度小于等于所述固體試樣的密度。

7.根據權利要求2所述的固體密度測量方法，其特征在于，所述液體為水。

8.根據權利要求2所述的固體密度測量方法，其特征在于，

測量所述液體的溫度，所述溫度計不接觸第一容器或第二容器的底部和側壁；

測量所述液體的溫度后，查所述液體在不同溫度下的密度對照表獲得液體的密度ρ_液。

9.根據權利要求2所述的固體密度測量方法，其特征在于，所述載物工作線的直徑小于等于0.1mm，所述載物工作線的材料為無吸水性材料。

10.根據權利要求9所述的固體密度測量方法，其特征在于，所述載物工作線的材料為聚乙烯。

11.根據權利要求3所述的固體密度測量方法，其特征在于，所述第二容器的底部和側壁鏤空。